开关电源可靠度测试规范.docx

可靠度测试规范编号 No.WI7308修订日期Amendment Date可靠度测试规范版本V.01Reliability Test Specification页次PageVersion3发行日期Release Date90.11.121.5 温度 Derating 率NO组件名称温度判定标准备注1电阻电阻最局耐温之8 0 %2电容电容最图耐温减5 C3半导体1.Schotty Diode 取 Tj 之 9 0 %2.其它半导体(晶体管 MOSFET Tj之8 0 %)热暴走高温短路测试Ta :55 C Load :100 %Ta :65 C Load :70 %Input :85V/265V 时 (Tj*80 %) +5C为判定基础4基板1 .FR-4 : 115 C2 .CEM-3 : 110 C3 .CEM-1 : 100 C4 .XPC-FR : 100 C5 .判定：PCB最大耐温减1 0 C与基板板厚无关5变压器 （含电 感）绝缘区分：A种E种 B种标准温度：105c120C130C热偶式：90 C105C110CAbnormal :150 C165C175CWI4201-02A编号No.WI7308修订日期Amendment Date可靠度测试规范版本V.01Reliability Test Specification贞次VersionPage4发行日期Release Date90.11.122. Component temperature rise组件温度上升：2.1 目的：确保待测物之可靠度，确认各组件均在温度规格内使用2.2 适用：所有机种适用。2.3 测试条件：a. 输入电压：规格范围之最小、额定、最大。b. 负载：规格范围之最大。c. 输出电压：额定。d. 周围温度：常温。e. 接线图：2.4 测试方法：a.依测试条件设定，当温度达到热平衡后，以热电偶测定组件温度，基板上之元 件焊点需测量温度。b. 参考温度Derating计算出最大温升规格值 t.（i.e. Derating Curve在 100% Load 100% 下最高至 50 C,则以附表ADerating率之温度减去 50 得 100% LOADED t. ; 60 c 时，Derating 率为 70%则减去60得到70戒At.） 实际负载在100%寸依减50c之为规格值。c. 组件之选择以R-1温度分布测得之发热较多组件做测定。d. 组件实际温升不能超过计算得出之 t.。编号No.WI7308修订日期Amendment Date可靠度测试规范版本V.01Reliability Test Specification贞次VersionPage5发行日期Release Date90.11.123. Parts derating组件余裕度：3.1 目的：确保待测物之可靠度，确认组件实际使用时能在绝对最大额定下之Derating率范围内。3.2 适用：所有机种适用。3.3 测试条件：a.测试待测物在下列条件下一次测和二次测主回路波形（电流波形和电压波形）1 .定额输入和输出2 .低压起动3 .短路开机4 .开机后短路5 .满载关机（不做记录）b. 各回路波形和组件耐压请参考组件 Deratingc. 接线图：可靠度测试规范Reliability Test Specification编号No.WI7308修订日期Amendment Date版本VersionV.01贞次Page6发行日期Release Date90.11.123.4组件 DeratingNO组件名称温度判定标准备注1电阻80%电阻最图耐压之90%Surge取耐压之95%2电容电容最图耐压之85%（AC输入电咨取耐压之95%）Ripple 电流取 100%钥质电咨取耐压之80%3二极管(Diode)Vrm V rsm I sfm SurgeSCR80%95%90%90%TRIAC80% 95 % 90 % 90 %Bridge-Diode 80%95%90%90%Diode80%95%90%90%Scotty Diode 90%95%90%90%Zener Diode90% 90 %LED80% 95 % 90 % 90 %kSurge： 12t4晶体管MOSFEVDs/Vce :取规格之95%VGs/Vbe :取规格之95%_I d/I c :取规格之95%Ib:取规格之95%5Fuse取额定电流之70%Surge : 65 %可靠度测试规范Reliability Test Specification编号 No.WI7308修订日期Amendment Date版本VersionV.01页次Page7发行日期Release Date90.11.124. Thermal runaway热暴走：4.1 目的：确认过负载、出力短路下，保护之余裕度。4.2 适用：所有机种适用。4.3 测试条件：a. 输入电压：规格之输入电压范围最小、最大值，（例85V/265V）。b. 负载：100% 及 70%（例 55c为 100% , 65 c为 70%）。c. 周围温度：最高动作温度+ 5C,输出Derating Curve 100%下温度上限+ 5Cd. 输出电压：额定。e. 接线图：恒温槽4.1.4.4 测试方法：a.参照部品温度上升结果确定待测部品，以热电偶量测。b.电源输入后，连续观测绘出温度上升值，确认饱和点。c.若有FANg置于待测物，需实际仿真安装于系统之情形进行测试。编号No.WI7308修订日期Amendment Date可靠度测试规范版本V.01Reliability Test Specification贞次VersionPage8发行日期Release Date90.11.125. High temperature shoty circuit高温短路：5.1 目的：确认输出短路放置后，待测物之可靠度。5.2 适用：除未加短路保护机种外所有机种适用。5.3 测试条件：a. 输入电压：规格范围之最大输入电压。（实测取最大，例265V）b. 输出电压：额定值。c.周围温度：动彳温度上限+ 5c （例65c） od.接线图：4.1.5.4测试方法：a. 待测物在设定测试条件下，输出短路 2小时以上。b. 记录温度上升之情形，参照温度 Derating ,不能超过规定温度c. 解除短路状态后确认输出仍正常，部品不能有损坏。可靠度测试规范Reliability Test Specification编号 No.WI7308修订日期Amendment Date版本VersionV.01页次Page9发行日期Release Date90.11.126. Life of electrolytic capacitor电解电容算出寿命:6.1 目的：推定待测物之寿命，并确认其可靠度。6.2 适用：所有机种适用。6.3 测试条件：a. 输入电压：额定值。b. 输出电压：额定值。c. 负载：额定。d. 周围温度：40 Coe. 接线图：6.4 测试方法：a. 额定之输出、输入时，在规定之周围温度下，依下式计算:T1 - T210Li=Ls. 2L1:实际之有效寿命Ls：部品使用温度范围上限下之有效寿命T1：部品之使用温度范围上限T2：实际使用温度。b. 算出之寿命时间应呈规格所示可靠度测试规范Reliability Test Specification编号 No.WI7308修订日期Amendment Date版本VersionV.01页次Page10发行日期Release Date90.11.127. Noise Immuuity噪声免疫力：7.1 目的：确保待测产品之可靠度，确认输入对加入脉冲之耐受程度。7.2 适用：所有机种。7.3 测试条件：a. 规格上有规定者，依规格实施。b. 周围温度：常温、常湿。c. 输入电压：115Vd. 输出电压：额定。e.负载电流：100%f.脉冲规格：规格书所列值*110%(50Q Termination) 如规格为 2.2KV则脉冲以土2.2KV*110%土 2.2KV施加脉波宽为。100nS,500nS,1000ns ,时间五分钟。g.接线图：7.4 测试方法：a.依条件施加脉冲于输入一输入间，输入一 Ground问，应无动作异常(含突入电流限 制回路、异常振荡等)保护回路误动作及组件损坏发生，测试时，输出电压之安定 度应在总和变动规格范围内。编号No.WI7308修订日期Amendment Date可靠度测试规范版本V.01Reliability Test Specification贞次VersionPage11发行日期Release Date90.11.128. Electro static discharge静电破坏：8.1 目的：确保待测产品之可靠度，确认产品对静电气之耐受程度。8.2 适用：规格书上规定之机种。8.3 测试条件：a. 周围环境：常温、常湿。b. 输入电压：额定（实测AC115V）c. 输出电压：额定d. 负载：额定100%e. 施加电压：规格书之数值 X 110% Charge Capacitor 500pF-Series Resistor100 Q,时间二 10 sec .f. 接线图：4.1.8.4 测试方法：a.待测物Ground部位，依条件施加脉冲电压分接触外壳及隔离放电实施；不能有保 护回路误动作，组件破损之异常发生。编号No.WI7308修订日期Amendment Date可靠度测试规范版本V.01Reliability Test Specification贞次VersionPage12发行日期Release Date90.11.129. Lightning Surge 雷击：9.1 目的：确认输入端加入Lightning Surge 之耐受能力。9.2 适用：规格有规定之机种。9.3 测试条件：a. 规格书有规定依规格条件。b. 输入电压：额定（实测AC115V）c. 输出电压：额定d. 负载：额定e. 周围环境：常温、常湿f. 施加波形：JEC 212规定，波头长1.2g 波尾长50肉之电压，波形3KV*110%（限流电阻100Q）。g. 接线图：4.1.9.4测试方法：a.依规定测试条件，施加Surge电压于输入一输入，输入一Ground 土极各3回确认组件无破损，无绝缘破坏，Flashover Arc及保护回路误动作情形发生可靠度测试规范Reliability Test Specification编号No.WI7308修订日期Amendment Date版本VersionV.01贞次Page13发行日期Release Date90.11.1210. Input ON/OFF at high temperature 高温输入 ON/OFF :10.1 目的：高温时输入电压ON/OFFS复施加，确认产品之信赖性。10.2 适用：所有机种适用。10.3 测试条件：a. 输入电压：规格之输入电压范围最大值（例：265V）。b. 负载：额定100% LOADc. 输出电压：额定d. 周围温度：动作可能温度范围+ 5c （例：65C）Oe. 接线图：4.1.10.4测试方法：a.待测物置于恒温槽内，依条件之温度设定，到达设定温度后放置12小时，同时电源ON/OFF1少500 cycle于输入端，结束后确认组件无破损，输出电压与机 能正常（ON 5 OFF 30S）。可靠度测试规范Reliability Test Specification编号 No.WI7308修订日期Amendment Date版本VersionV.01页次Page14发行日期Release Date90.11.1211. Low temperature operation低温动作确认：11.1 目的：为确保待测产品可靠度，确认周围温度下限之动作余裕度。11.2 适用：所有机种适用。11.3 测试条件：a. 输入电压：规格范围之最小、最大值（实测最小值）。b. 输出电压：额定。c. 负载：最小、最大值（实测最大值）。d. 周围温度：动作可能温度下限10Coe. 接线图：11.4 测试方法：a.待测物在测试温度条件下设定为关机状态充份放置（至少1小时）关机状态，重新加入电源，确定可激活。可靠度测试规范Reliability Test Specification编号 No.WI7308修订日期Amendment Date版本VersionV.01页次Page15发行日期Release Date90.11.1212. Dynamic source effect 动的输入变动：12.1 目的：确认待测产品在动的输入变动下能正常动作12.2 适用：交流输入之所有机种。12.3 测试条件：a. 规格书有规定者，依规格条件。b. 负荷：额定100%c. 周围温度：常温。d. 输出电压：额定。e. 输入变动条件：额定最小，额定最大。最大电压额定冏壁t=0.5secINPUTSOURCE12.4 测试方法：a. 在基准动作状态下（额定输入电压100%Load）测定输出电压值Vb. 计算电压变动率：V h -Vs x 100% V l -Vs x 100%VsVSc. 计算之变动率，应在总和变动之规格范围内。编号No.WI7308修订日期Amendment Date版本VersionV.01页次Page16发行日期Release Date90.11.1213. Fan abnormal operation FAN异常动作：13.1 目的：待测产品在自然冷却使用情形下，确认FAN停止运转，转数变慢时，保护机能正常运作。13.2 适用：产品因需风扇冷却而装设之机种。13.3 测试条件：a. 输入电压：规格范围内之最小、最大值。b. 负载：最大100%。c. 周围温度：感热组件部份，依动作可能温度范围上限+5C, 25c及下限5C共3点实施测试。其它部份则以动作可能温度范围上限+5C ,下限-5 C实施量测。d. 输出电压：额定。13.4 测试方法：a.主要晶体管、变压器、CHOK等重要组件，以热电藕量测记录其结果。Fan异常动作发生时观测组件温度上升应记录其结果。b.Open Frame之产品与系统产品搭配测试。c. 确定在测试条件下，无保护回路之误动作发生，组件上升温度不能超过规格值。可靠度测试规范Reliability Test Specification编号No.WI7308修订日期Amendment Date版本VersionV.01贞次Page17发行日期Release Date90.11.1214. Vibration 振动：14.1 目的：为确保产品之信赖性，产品在制造时及运送时对振动之耐受程度需加以确认14.2 适用：所有机种适用。14.3 测试条件：a. 周围温度：常温。b. 动作状态：Non-Operatingc. 振动频率：5 10 Hz 全振幅10 mm10 200Hz力口速度 21.6m/sec 2 (2.2G)Sweep Time:10 Min依对数变化。振动方向：X,Y,Z轴各1小时。冲击试验程序：1. 试验系统图供源超胺方向 X>kWI4201-02A4.1.14.4 测试方法：a.依测试条件或产品规格所列条件进行测试。b.测试完成后，以目视检查(必要时用显微镜)待测物之外壳、基板、零件、配线有无异常；确认后，通电并确认输出电压及电气特性有无异常。修订日期Amendment Date一版本VersionV.01发行日期Release Date90.11.12编号No.WI7308可靠度测试规范-Reliability Test Specification 页次Page1815. Shock 冲击：15.1 目的：为确保待测物之可靠度，在制造时及运送时对冲击之耐受程度需予以确认15.2 适用：所有机种适用。15.3 测试条件：a. 冲击加速度：588m/sec2(60G)b. 冲击时间：11 + 5m sec 半波正弦波。c. 振动方向：X(X),Y(Y ),Z,5方向，各3回。d. 周围温度：常温。e.Non Operating15.4 a. b.1.测试方法：依测试条件进行测试。测试完成后，以目视检查(必要时用显微镜)待测物之外壳、基板、零件、配线有 无异常;确认后通电并确认输出电压及电气特性有无异常。冲击测试程序：测试系统图：供源a. 待测物需设计治具以固定之。(电木板及铝板)b. 依测试条件施加予待测物。c. 加速度588m/sec2(60G)各方向3回。d. 记录试验条件及结果。可靠度测试规范Reliability Test Specification编号No.WI7308修订日期Amendment Date版本VersionV.01贞次Page19发行日期Release Date90.11.1216. Abnormal Ripple 异常 Ripple 确认：16.1 目的：确保待测产品之可靠度；由周围温度、输入电压、输出电流之各条件组合下,确认其动作之安定性。16.2 适用：所有机种适用。16.3 测试条件：a. 负载：0% 100% （连续）。b. 周围温度：动作温度范围（i.e.t20C60C - -20C/25 C/60 C）oc. 输入电压：规格范围最小最大（连续）。d. 输出电压：额定。e. 接线图：4.1.16.4测试方法：f. 待测物在不通电之状态下，依测试之组合条件，在设定之温度下放置1小时。g. 连续调整输入电压及负载电流，并观察有无异常Ripple之发生，如振荡、间歇振荡、AC Ripple导致之微小异常振荡。编号No.WI7308修订日期Amendment Date版本VersionV.01贞次Page20发行日期Release Date90.11.1217. High Temperature Test高温测试：17.1 目的：确认产品在高温置放后，维持正常功能之特性。17.2 适用：所有机种适用。17.3 测试条件：a.温度：Temp(deg C)7025functional inspection0 1 274 75 76T产品规格所列之储存温度上限Time (hour)可靠度测试规范Reliability Test SpecificationWI4201-02Ab. 输入电压：额定。c. 输入频率：50HZ。d. 负 载：100% LOADe. 接线图：17.4 测试方法：a.产品置于恒温槽内，依上述之条件进行测试。b.温度在达到预定之高温Th前后一小时之前于常温下，须先进行功能测试，确认产 品之功能；测试后产品须无任何损伤。编号No.WI7308修订日期Amendment Date版本VersionV.01贞次Page21发行日期Release Date90.11.1218. Low Temperature Test 低温测试：18.1 目的：确认产品在低温置放后，维持正常功能之特性。18.2 适用：所有机种适用。18.3 测试条件:a.温度:Temp(deg C)Tb. 负载：100% LOA Dc. 输入电压：额定。d. 频率：50H。e.Tl：规格所列之储存温度下限f. 接线图：18.4 测试方法：a. 产品置于恒温槽内，依上述之温度设定及接线图进行测试。b. 温度到达预订之低温，前后一小时前须进行功能测试，确认产品能正常动作；且无任何损伤。编号No.WI7308修订日期Amendment Date版本VersionV.01页次Page22发行日期Release Date90.11.1219. Temperature/Humidity Test 温、湿度循环测试:19.1 目的：确认产品对周围温、湿度之适应能力。19.2 适用：所有机种适用。19.3 测试条件：b.负载：100% LOADTime (hour)c.输入电压：额定。d.频率：e. 接线图：4.1.19.4测试方法：a. 依上所列之测试条件及接线方式，执行测试。b. 测试结束后，待测物需功能正常，零件无损坏情形编号No.WI7308修订日期Amendment Date版本VersionV.01贞次Page23发行日期Release Date20. Strife Test极限测试：20.1 目的：确认待测产品的耐受高温之极限。20.2 适用：依需求规格列出之机种。20.3 测试条件：a.输入电压：额定。(110V/220V)e.负载：额定100% LOADf.温度：70 c (1hr) 一80 c (1hr) 一90 c (1hr) 一 100 c (1hr) 一至产品失效d.接线图：20.4 测试方法：a. 产品置于恒温槽内，依接线图及条件设定。b. 当温度到达默认值后，停留一小时，开始执行功能测试。c. 产品若功能正常，将温度每次升高10C,进行测试，至产品失效为止，记录失效 之温度。d. 产品失效时，不能发生冒烟、起火等状况。可靠度测试规范Reliability Test Specification编号No.WI7308修订日期Amendment Date版本VersionV.01贞次Page24发行日期Release Date21. PLD test(输入瞬断测试)：A.An undervoltage of 25% below the minimum input voltage, applied for two seconds,repeated 10 times : error free with a 10% duty cycle.B.An undervoltage of 35% below the minimum nominal input voltage, but not less than 68V,applied for 30 : error free cycles of the input frequency,repeated 10 times with a 10% duty cycle.C.An undervoltage of 100% below the minimum nominal input voltage,applied for 20 milli-seconds repeated 10 times : error free with a 10% duty cycle.D.An overvoltage of 20% above the maximum nominal input voltage applied for two seconds,repeated 10 times with : error free a 10% duty cycle.E.When either of the following waveforms are applied to either polarity peak of the input voltage waveform.The waveforms shall consist of 400Hz 50HZ or800Hz 100H exponentially decaying sinusoid with apeak voltage equal to the peak nominal line volage : error free and decay time constant such that the fifth half-cycle of the disturbance is between 15 and 25% of the first half-cycle. The total duration of the disturbance shall not exceed one cycle of the line voltage.This test shall be repeated 320 times (80 positive rings and 80 negative rings at 400Hz；80 positive rings and80 negative rings at 800Hz) a three(3) second intervals.F.Differential mode(line-to-line) and common mode (line-to-ground) voltage surges with open circuit voltages of 2.5KV peak 10% and 2KV peak 10% respectively. The source impedance of the surge generator shall be : error free 2 ohm 20%.The surge wave shall be defined in ANSI/IEEEC62.41(1980) and IEC 60-2(1973).three positive and three negative surges shall be applied at 0,90,180, and 270 degrees(24 total). The time interval between surges shall be 18 seconds.修订日期Amendment Date_版本VersionV.01发行日期Release Date90.11.12编号No.WI7308可靠度测试规范,Reliability Test Specification 页次Page25WI4201-02AG.A 100 nanosecond pulse with an amplitude of 400volts shall be superimposed on the peak of the : error free nominal input voltage and repeated at the linefrequency for ten(10) minutes.H.The power supply shall suffer no physical damage under the following disurbances in AC line voltage.Repeat each test five times,returning the power supply : damage freeto its normal running conditions between tests.A complete line outage for any duration.I.The power supply shall suffer no physical damage under the following disturbances in AC line voltage. Repeat each test five times,returning the power supply : to its normal running conditions between tests. A line input undervoltage of 65% below the nominal of any duration of 5 seconds or less.J.The power supply shall not latch up with the following line conditions:80% under voltage below the nominal for 60 milliseconds or longer.damage free:error free:error free编号No.WI7308页次Page26修订日期Amendment Date版本VersionV.01发行日期Release Date90.11.12K.The power supply shall not latch up with the following line conditions/。 under voltage below the nominal for 60 milliseconds or longer.可靠度测试规范Reliability Test SpecificationWI4201-02AV1Repeat 2V146:120V47:100V48:80V49:60V50:40V51:20V52:0VRepeat 2 times200V200V200V200VDROP TIME:2S25ms2S40ms2S60ms2S90ms,130ms,200ms, 280ms,400ms,600ms, 900msV1V1V11.3S,2s200ns200ns200nsPROGRAM:53100 VPROGRAM:5499V98V20S20S20S20S20S100V20S2 V39:60V40:50V100V100V100V100VDROP TIME:41:40V2S2S2S 12S90ms,130ms,200ms,42:30V280ms,400ms,600ms,43:20V25ms40ms60ms900ms44:10VV1V1V11.3S,2s45:0V200ns200ns200nsWI4201-02A编号No.WI7308修订日期Amendment Date版本VersionV.01贞次Page27发行日期Release Date90.11.12200V200V100V100V322S2S360.5S0.5S150 V150 V68V68VPROGRAMTEST WAVEFORMPROGRAMTEST WAVEFORM3135100V100V3316.7ms16.7ms0V0V200V200V3416.7ms16.7ms0V0V3738152.42S127V2882S240V127V240V