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    由于离子产生高温侧蚀,残影等问题总结.ppt

    • 资源ID:2394259       资源大小:680.51KB        全文页数:9页
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    由于离子产生高温侧蚀,残影等问题总结.ppt

    由于离子产生的残影,侧蚀总结,天马公司技术管理部,影像残留(image sticking),高温侧蚀现象,高温侧蚀的一些特点: 1、在80C,LCM点亮工作超过2hrs后出现,恢复到常温后消失; 2、侧蚀出现的位置是随机的,但是它们都是从子像素的边缘开始向内部扩散的; 3、它会因摩擦方向的改变而改变侧蚀的方向。,一些试验和总结,离子横向移动模型 K. Neyts, “Lateral ion transport in nematic liquid-crystal devices”, Journal of Applied Physics, Vol. 94, Number 6 ,pp.3891-3896(2003).,我们将以离子的横向移动以及离子与电场的作用的角度进行分析:,由于液晶盒内存在离子,在电场作用下,离子会聚集在PI表面,其内建电场会导致显示异常,如下图所示:,简单解释,驱动波形的影响: 一般产品采用SLA驱动波形,如下图: 由于负载及其它原因导致|+VLCD|-VLCD|,离子在不对称电压下会向一基板定向移动,到达PI表面,而另一边的基板上相对离子减少,造成离子聚集,形成显示异常的现象。,简单解释,以下是从Simens VDO ESTN产品SPEC中摘选的内容:,其中都特别强调要使用行翻转的驱动方式,以避免产生”Missing Segment, Image Retention”等缺陷。,简单解释,对于离子特别多的产品可以考虑用更高频率的波形来驱动。,总 结: 经过研究,我们的总结: 1、离子是造成此类问题的罪魁祸首; 2、离子可能导致的缺陷:残影、侧蚀/黑团/显示不匀、filicker; 3、减小盒内离子浓度是很主要的目标,办法有:更改高性能的材料(如PI、LC等); 4、针对此类的缺陷,我们的办法有:换PI、LC,更改软件增大LCD的驱动频率,改为N-Line翻转驱动(需IC支持)。,

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