信息技术类抗电强度测试标准解读.doc

信息技术类抗电强度测试标准解读抗电强度，俗称绝缘耐压或者打安规打高压，属于安规实验中的一项，其物理学中的定义为：工作于强电场中的绝缘材料所能承受的最大电场强度(即超过该场强介质便击穿)，而工业上常用击穿电压来表征抗电强度。信息技术类的常见安规标准有3个，即GB4943，EN60950，UL60950。A 三大标准的关系按照惯例，中国的电子设备国家标准基本是全文翻译IEC的相关标准，在信息技术类安全规范标准领域也不例外，国标4943的制定基本上是全文翻译EN60950的标准，虽然近年相继有20072010版的更新，但基本实验项目并未变动，仍是以GB4943-2001版的为基础。美国的UL认证体系与IEC是两个完全不同的体系，但随着IEC被越来越多的国家引用，UL也在某些方面开始向IEC标准靠拢，信息技术类的安规标准就是一例，UL60950与EN60950的语句如出一辙，只是区分了美洲特殊电压规范信息。综上，GB和UL均是全盘引用IEC的EN60950标准，为了便于理解，以下的解读以GB4393为主，EN60950与GB完全一致，UL的只做原文引用，不再解读。B GB4943-2001由于网络上只能download步步高公司的抄编版,故以下解读均以步步高公司的抄编版为基础。GB4943对抗电强度的描述在第83页1 对实验样品的要求：以下为国标原文设备中使用的固体绝缘应具有足够的抗电强度.当按4.5.1的规定进行发热试验后，在设备仍处于充分发热状态时，应立即按照5.2.2的规定对设备进行试验，以此来检验其是否合格.如果一些元器件或组件在设备外单独进行抗电强度试验，通过进行发热试验的部件(例如：将它们放置在烘箱中)，使这些元器件或组件达到一定的温度.但是，对用作附加绝缘或加强绝缘的薄层绝缘材料的抗电强度试验，允许在室温下按照2.10.5.2进行对样品的一般要求，总结三点1)对设备整机，先按4.5.1做发热实验，然后对发热状态的时候立刻进行抗电强度实验;2)对组件(用作加强绝缘的材料除外)：首先在设备整机实验室应测量发热试验后该组件的表面温度T1，然后在对该组件做抗电强度实验时应首先对其加热至T1后再进行实验;3)对用作加强绝缘的材料:允许在室温下测试抗电强度。以上三点中，与我们密切相关的是第一点，即整机实验须在发热试验后立刻进行。