[电子标准]-SJT 10042-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54LS00／CT74LS00型,四2输入与非门1.pdf

L - i 中华人民共和国电子工业行业标准 S J / T 1 0 0 4 2 1 0 0 4 8 -9 1 S J / T 1 0 0 7 8. 1 0 0 8 6 -9 1 电子元器件详细规范 半导体集成电路T T L电路 ( 一 ) 1 9 9 1 一 0 4 - 0 8 发布1 9 9 1 一 0 7 - 0 1 实施 中华人民共和国机械电子工业部发布 中华人民共和国电子工业行业标准 电子元器件详细规范 半导体集成电路 C T 5 4 L S 0 0 / C T 7 4 L S 0 0 型四2 输人与非门 De t a i l s p e c i f i c a t i o n f o r e l e c t r o n i c c o mp o n e n t s S e mi c o n d u c t o r i n t e g r a t e d c i r c u i t C T 5 4 L S 0 0 / C T 7 4 L S Q 0 q u a d r u p l e 2 - i n p u t p o s i t i v e - N A N D g a t e S ! / T 1 0 0 4 2 -9 1 本规范规定了半导体集成电路 C T 5 4 L S 0 0 / C T7 4 L S 0 0 型四2输入与非门质量评定的全 部内容。 本标准符合G B 4 5 8 9 . 1 半导体器件分立器件和集成电路总规范 和 G B / T 1 2 7 5 0 半导 体集成电路分规范( 不包括混合电路) 的要求。 中华人民共和国机械电子工业部 1 9 9 1 - 0 4 - 0 8 批准1 9 9 1 - 0 7 - 0 1实施 一1 一 S J / T 1 0 0 4 2 - 9 1 中华人民共和国机械电子工业部 评定器件质备的依据: G B 4 5 8 9 . M半导体器件分立器件和 集成电 路总规范 G B / T 1 2 7 5 0 半导体集成电路分规范 ( 不包括混合电路) S J i T 1 0 0 4 2 - 9 1 C T 5 4 L S 0 0 / C T 7 4 L S 0 0 型四2 输入与非门详细规范 订货资料: 见本规范第 7 章. 1 机械说明 外形依据: GB 7 0 9 2 半导体集成电 路外形尺寸 外形图: G B 7 0 9 2 D 型 S . 3 条 及 5 . 3 . 一 秦 - J'M 5.4*,R S.4.1s'Psq, a 5. 5. 1F t9 5.1*R S.l.ls'T, 引出端排列: J A 旅一了习1 V c c G N D L j一 n 3 V 引出端符号名称见本规范第 n 1 条 。 标志: 按 GB 4 5 8 9 . 1 第 2 . 5 条及本 规范第 6 章。 2 简要说明 双极型门 电路 半导体材料: 硅 封装 空封、 非空封 逻辑图、 功能表: 见本规范第 1 1 章。 品种; 介 0 - 70- C ( C) 一 5 5- 1 25' C ( M ) 陶瓷直插( D )C T5 4 LS O O MD 黑瓷直播( J )CT7 4 LS 0 0 0 JCT5 4 LS O O MJ 殆2 _ I 1 4 2 1 3 3 1 2 d 1 1 S 1 0 1 6 9 7 8 塑料直插( P )CT7 4 LS0 00P 多层陶瓷扁平( F )CT54 LSO OMF 3 质量评定类别 1，.A,，B,，C 一2 一 S J / T 1 0 0 4 2 -9 1 极限值( 绝对最大额定值) 若无其他规定. 适用于全工作温度范围。 条款号参数符号 数值 单位 最小最大 4 . 1 工作环境温度 5 4 T , m b 一 5 51 2 5 07 0 7 4 4 . 2贮存温度 T. t g 一 6 5 1 5 0 4 . 3电源电压Vcc 7v 4 . 4输入电压V 7v 4 . 5 多发射极晶体管 输入端间的电压 Vn 5 . 5v 电工作条件和电特性 电特性的检验要求见本规范第8章。 电工作条件 若无其他规 定， 适用于全工作温度 范围。 条 款 号参数 符号 数值 单位 最小 最大 5 . 1 . 1 电源电压 5 4 VI I 4 . 55 . 5 V 4 . 7 55 . 2 57 4 5 . 1 . 2 输入高电平电压 v ,2v 5 . 1 . 3输入低电平电压 5 4 v 0 . 7 v 0 . 吕7 4 5 . 1 . 4输出高电平电流入 川一 4 0 0尸人 5 . 1 . 5输出低电平电流 5 4 1 . 4 m A 87 4 电特性 若无其他规定， 适用于全工作温度范围。 一3一 S J / T 1 0 0 4 2 -9 1 条软号特性和条件1)符号 规范值 单 位 试 验 最小最大 5 . 2 . 1 翰出高电平电压 V x，最小V , a =2 V V a . 二最大I o a =4 0 0 p A 5 4 Vo a 2 . 5 v A3 A 3 a A3 b 2 . 77 4 5 . 2 . 2 翰出低电平电压 V a=最小 V , a =2 V Vi. =最大 5 4I r n. =4 -A VO L 0 . 4 v A 3 A U A3 b 0 . 4 7 4 了片 通份直 I O , . =8 mA 0 . 5 5 . 2 . 3 输入钳位电压 V a=最小L a -1 8 m人 V压一 1 . 5 v A 3 A 3 a A3 b 5 . 2 . 4 墉入商电平电流 V a c =最大V , 。 二2 . 7 V l a ,2 0 p A A 3 人 3 a A3 b 5 . 2 . 5 翰入低电平电流 V ce二最大V =0 . 4 V 入I 一 0 . 4m A A 3 A 3 a A 3 b 5 . 2 . 6 最大输入电压下的翰入电流 V 。二最大V, =7 V l ,0 . 1 . A A 3 A 3 a A 3 b 5 . 2 . 7 输出短路电流 V “最大 l o s一 2 0 一 1 0 0m A A 3 A 3 a A 3 6 5 . 2 . 8 电像电流 V c c =最大输出端开路 1 - 1 . 6 m A A3 A3 aA3 A 3 b1 -4 . 4 5 . 2 . 9 传输时间 C c =1 5 p F R : 二2 k n V c c =5 V T. . b -2 5 t . 1 5 n SA 4 t PH E 1 5 注: 1 ) 条件中“ 最大” 或“ 最小” 指的是 5 . 1 条规定的值。 6标志 器件上 的标志示例 : 4 一 S J / T 1 0 0 4 2 -9 1 认证合格标志( 适用时) 弓 !出 端 。标 ， 一丁 二 口 9 9 1 6 CT 7 4 I S0 0 c p 恤人 一型号 质量评定类别 制造单位商标 检脸批识别代码 由 于器件尺寸的限制， 允许将“ 检验批识别代码” 、 “ 质t评定类别” 标在器件背面. 7 订货资料 若无其他规定， 订购器件至少需要下列资料 : 8 . 产品型号; b . 详细规范编号; c . 质量评定类别; d .其他 。 8 试验条件和检验要求 抽样要求: 根据采用的质f评定类别， 参照G B / T 1 2 7 5 0 第9 章的有关规定。 A组检验的抽样要求 分组 AQL I 类 .裘 I L AQLI L AQL A 1I0 . 6 5I 0 . 6 5 A 2厄 0 . 110 . 1 A 3I 0 . 1 5盆0 . 1 5 M a S41 . 0S4 1 . 0 A3 b S41 . 0S 4 1 . 0 人 4 S41 . 0S 41 . 0 B组、 C组和 D组检验的抽样要求 分组 LTY D l 类 ，类 AB C B 11 51 51 5 1 5 C12 02 0 2 02 0 5 一 S J / T 1 0 0 4 2 -9 1 续表 分组 Ll . PD .类 ，类 AB C C2 b1 51 5 1 51 5 B3 C31 5 1 5 1 51 5 B4 C41 01 01 01 0 B 5 C 51 01 01 01 0 C62 02 02 02 0 C 7151 51 51 5 B8 C81 0571 0 C 91 557I 5 C l l2 02 02 02 0 B 2 12 01 01 01 5 C2 32 01 01 52 0 C2 42 01 01 52 0 D8工 05了1 0 A组逐批 所有试验均为非破坏性的 检验或试验引用 标 准 条件 若无其他规定， 7 '. . b = 2 5 IC ( 见G B 4 5 8 9 . 1第4 . 1 条) 检 验 要 求 规 范 值 Al 分组 外部目枪 GB 4 5 8 9 . 1第 4 . 2 . 1 . 1 条G B 4 5 8 9 . 1 第 4 . 2 . 1 . 1 条 标志清晰， 表面无 损伤和气孔 A 2分组 2 5 下的功能验证 按本规范5 . 2 . 1 条, 5 . 2 . 2条 和 1 1 . 3 条 按本规范 5 . 2 . 1 条、 5 . 2 . 2 条和 1 1 . 3条 A 3分组 2 5 下的静态特性G B 3 4 3 9 半导体集成电 路TT L电路测试方法的 荃本原理 按本规范5 . 2 . 1 条至5 . 2 . 8 条 和 1 0 . 1条 按本规范5 . 2 . 1 条 至5 . 2 . 8条 一6 一 S J / T 1 0 0 4 2 -9 1 A组 逐批 ( 续) 检脸或试验引 用 标 准 条件 若无其他规定， T. m b a 2 5 'C ( 见GB 4 5 8 9 . 1 第 4 . 1 条) 检验要求 规 范 值 Ma分组 最高工作温度下的 静态特性 G B 3 4 3 9 T. m b按本规范4 . 1条规定的 最大值。条件: 同A3 分组 同A3分组 A3 b分组 最低工作温度下 的静态特性 G B 3 4 3 9 T. m b按本规范 4 . 1条规定的 最小值.条件 同A3 分组同 A3分组 A4 分组 2 5 下的动态特性 G B 3 4 3 9 按本规范5 . 2 . 9条和 1 0 . 2条按本规范 5 . 2 . 9 条 B组 逐批 标有( D) 的试验是破坏性的 检 验 或 试 验引 用 标 准 条件 若无其他规定， T . m b 二 2 5 'C ( 见G B 4 5 8 9 . 1第4 . 1 条) 检 验 要 求 规 范 值 B1 分组 尺寸 GB 4 5 8 9 . 1 第4 . 2 . 2条及附录B 按本规范第1章 B 4分组 可焊性GB 4 5 9 0 半导休集成电路 机械和气候试验方法 第 2 . 5 条一 按方法 b ( 槽焊法) 浸润 良好 B 5 分组 温度快速变化 a . 空封器件 温度快速变化 随后进行: 电侧t 密封: 细检漏 粗检偏 b . 非空封和环氧封的 空封器件 沮度快速变化 随后进行 外部目检 、 称态湿热 电侧t GB 4 5 9 0 第 3 . 1 条 GB 4 5 9 0第 3 . 1 2 条 GB 4 5 9 0第 3 . 1 3 条 GB 4 5 9 0第3 . 1 条 GB 4 5 8 9 . 1 第 4 . 2 . 1 . 1 条 G S 4 5 9 0第 3 . 7 条 温度: 按本规范第4 . 2条规定 循环次数: 1 0 次 同A2 , A3分组 按规 定 按规定 温度: 按本规范第4 . 2条规定 循环次数: 3 0次 按规定 严格度 A 时间 2 4 6 同A 2和A3分组 同A 2 , A3分组 同 A1 分组 同 A 2和A3分组 7 一 S J / T 1 0 0 4 2 -9 1 B组逐批( 续) 检 验 或 试 验引 用 标 准 条件 若无其他规定, 7 '. m t = 2 5 'C ( 见 G B 4 5 8 9 . 1第4 . 1 条) 检 验 要 求 规 范值 B8 分组 电耐久性( 1 6 8 h ) 最后侧t 同A2 , A3 和 A4分 组) GB/ T 1 2 7 5 0 第 1 2 . 3 条 T . m t 按本规范 4 . 1 条规定的 最大值， 其他按本规范1 0 . 3 条 同人2 , A3 和 A 4分组同 A 2 , A3 和 A 4分组 B2 1 分组 离压燕汽( D) ( 非空封器件) 最后测t ( 同A2和A3 分组) GB 4 5 9 0 第 4 . 5 条 严格度C 时间: 2 4 h 同 A 2和A3 分组同 A 2和A3 分组 C R R L分组 就B 4 , B 5 , B 8 和B 2 1 分组提供计数 检查结果. C组 周期 标有( D) 的试验是破坏性的 枪 验 或 试 验引 用 标 准 条件 若无其他烧定, T . m t = 2 5 *C ( 见G B 4 5 8 9 . 1 第4 . 1 条) 检 验 要 求 规 范 值 C 1分组 尺寸 GB 4 5 8 9 . 1 第 4 . 2 . 2 条及附录 B 按本规范第 1 章 C 2 b分组 最高和最低工作 温度下的电特性 GB 3 4 3 9温度 按本规范第 4 . 1 条 同A4 分组 规范值为A4分组最大值 的1 . 5倍 C 3分组 引线强度 拉力( D) 弯曲( D) G B 4 5 9 0第 2 . 1 条 G B 4 5 9 0第 2 . 2 条 外加力的值按 2 . 1 条表 1 外加力的值按 2 . 2 条表 2 按G B 4 5 9 0第 2 . 1 . 5 条 无损伤 G B 4 5 9 0第2 . 6 条按方法 1 ( 2 6 0 0槽焊) 同A3 分组同A3 分组 一8 一 s J / T 1 0 0 4 2 -9 1 C组周期( 续 ) 检 验 或 试 验引 用 标 准 条件 若无其他规定. T. m b - 2 5 'C ( 见GB 4 5 8 9 . 1 第 4 . 1 条) 检 验 要 求 规 范 值 C 5 分组 ， 温度快速变化( D) ( 非空封和环氧 封的空封器件) 随后进行: 外部目检 祖态湿热 电测t ( 同A3 分组) GB 4 5 9 0 第3 . 1条 GB 4 5 8 9 . 1第4 . 2 . 1 . 1 条 GB 4 5 9 0第3 . 7 条 Ta =一6 5 ' C Ta =1 5 0 ' C 循环次数 5 0 0 严格度A 2 4 1, 同A3 分组 同A1 分组 同 A3分组 C 分组， ， 称态加速度( D) ( 空封器件) 最后测t ( 同A3 分组) GB 4 5 9 0 第 2 . 1 0 条加速度: 按规定 同A3 分组 同A3 分组 C7 分组 椒态湿热( D ) a . 空封器件1) b非空封器件 最后侧t ( 同A2 , A 3分组) GB 4 5 9 0 第 3 . 6 条 GB 4 5 9 0 第 3 . 7 条 严格度D 严格度 A， 时间 1 0 0 0 1, 同人 2 , A3分组同A2 , A 3分组 C8 分组 电附久性( 1 0 0 0 1, ) 最后 侧t ( 同B 8 分组) GB 4 5 9 0 第 4 . 7 条同B 8 分组 同B 8 分组同B 8分组 C9 分组 高温贮存( D ) 最后侧t ( 同B 8 分组) GB 4 5 9 0第 3 . 3 条 温度按 T s i ( ma x ) 时间 1 0 0 0 1, 同B 8 分组同B 8分组 Cl l 分组 标志耐久性GB 4 5 9 0 第4 . 3条 按方法2 . 溶液: A型按 4 .3 . 2条 C2 3分组 抗溶性( D ) ( 非空封器件) G B 4 5 9 0 第4 . 生 条按 G B 4 5 9 0第4 . 4 . 2条按G B 4 5 9 0 第4 . 4 . 2条 一9 一 S J / T 1 0 0 4 2 - 9 1 C组周期 ( 续) 检 验 或 试 验引 用 标 准 条件 若无其他规定， T a m b = 2 5 'C ( 见 G B 4 5 8 9 . 1 第 4 . 1 条) 检验要求 规 范 值 C 2 4分组 易姗性( D) ( 非空封器件) GB 4 5 9 0 第 4 . 1条 按GB 4 5 9 0 第 4 . 1 . 2 条按G B 4 5 9 0 第4 . 1 . 2 条 C R RL分组就C2 b , C 3 , C4 , C 5 , C6 , C7 , C 8 , C 9 , C1 1 , C 2 3 和 C 2 4 分组提供计数检查结果。 注 1 )连续三次通过后， 周期可放宽为一年一次. 9 D组 D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行， 其后每年进行一次。 检 验 或 试 验引 用 标 准 条件 若无其他规定， Ta m b =2 5 'C ( 见GB 4 5 8 9 . 1 第 4 章) 检 验 要 求 规 范 值 D8 分组 电耐久性( D) 最后侧t ( 同B 8 分组) GB/ T 1 2 7 5 0 第 1 2 . 3 条 0 类: 2 0 0 0 1, . 类: 3 0 0 0 h 其他同B 8 分组 同 B8分组伺 B 8 分组 附加资料 1 静态特性的测量 静态特性的测量按GB 3 4 3 9 半导体集成电路 T T L电路测试方法的基本原理 。 2 动态特性的测量 2 . 1 动态特性的测量按GB 3 4 3 9 0 2 . 2 负载线路 日nU dl月 八U朴llUlllU 月咬t月 一10 一 S J / T 1 0 0 4 2 -9 1 几 Z ko 搜被侧摘出端 l b v a 1 0 . 3 电耐久性试验线路 V. 二3 V f o 二1 0 0 k Hz Vc e =5 V R=2 k f 2 f n 全宁 型号说明 逻 辑符 号 们11. 11 S J / T 1 0 0 4 2 - 9 1 lY洲 3Y ) dY 1 1 . 2逻辑图 口ZY3Y4Y 丹丹丹丹 1IB2邓33B44B 1 1 . 3 逻辑表达 式 Y = A ·B s l / T 1 0 0 4 2 -9 1 附录A 蕊选 ( 补充件 ) I 类器件: 生产厂自 行规定筛选条件. ， 类器件: 筛选项目 和条件如下: 等级 A等级 B等级 C 离 温 称 定 G B 4 5 9 0 3 . 3条 ， 1 5 0 ' C、 4 8 h 密封 ， GB 45 9 0 3 . 1 2条和3 . 1 3 条 老 化前电测t 同A3 分组 易 9 除不合格品 老化后电测量 同A3分组， 别除不合格品. 若不合格品率大于 5 纬， 则该批拒收。 注: 1 )不适用于非空封器件. 1 3 一 S J / T 1 0 0 4 2 - 9 1 附加说明: 本标准由 全国 集成电路标准化分技术委员会提出。 本标准由北京八七八厂负贵起草. 本标准主要起草人: 孙人杰。