[电子标准]-SJT 10081-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54153／CT74153型双4选1数据选择器1.pdf

L - i 中华人民共和国电子工业行业标准 S J / T 1 0 0 4 2 1 0 0 4 8 -9 1 S J / T 1 0 0 7 8. 1 0 0 8 6 -9 1 电子元器件详细规范 半导体集成电路T T L电路 ( 一 ) 1 9 9 1 一 0 4 - 0 8 发布1 9 9 1 一 0 7 - 0 1 实施 中华人民共和国机械电子工业部发布 中 华 人 民 共 和 国 电 子 工 业 行 业 标 准 电子元器件详细规范 半导体集成电路 C T 5 4 1 5 3 / C T 7 4 1 5 3 型 双 4选 1 数据选择器 S ! / T 1 0 0 8 1 -9 1 De t a i l s p e c i f i c a t i o n f o r e l e c t r o n i c c o mp o n e n t s S e mi c o n d u c t o r i n t e g r a t e d c i r c u i t C T5 4 1 5 3 / C T7 4 1 5 3 d u a l 4 - l i n e t o 1 - l i n e d a t a s e l e c t o r s 本规范规定了半导体集成电路C T5 4 1 5 3 / C T 7 4 1 5 3型双 4 选 1 数据选择器质量评定的全 部内容。 本标准符合G B 4 5 8 9 . 1 N 半导体器件分立器件和集成电路总规范 和GB / T工 2 7 5 0 半导 体集成电路分规范( 不包括混合电路)的要求。 中华人民共和国机械电子工业部 1 9 9 1 - 0 4 - 0 8 批准1 9 9 1 - 0 7 - 0 1实施 1 46 s J / T 1 0 0 8 1 -9 1 中华人民共和国机械电子工业部 评定器件质量的依据: G B 4 5 8 9 . 1 半导体器件分立器件和 集成电路总规范 G B / T 1 2 7 5 0 半导体集成电路分规范 ( 不包括混合电路) S J / T 1 0 0 8 1 -9 1 C T 5 4 1 5 3 / C T 7 4 1 5 3 型双 4 选 1 数据选择器详细规范 订货资料: 见本规范第 7 章。 1 机械说明 外形依据: G B 7 0 9 2 半导体集成电 路外形尺寸 。 外形图: G B 7 0 9 2 DM 5.3*J 5.3.1sJIM 5.45.4.1PM9 5.5*A5.5.1F IM 5.1-j4R)5.1.1 引出端排列: 1 听 乙，代 Y C cI S T ， 亡 2 5 0 2 S T I D . “31 4 n 4_ I D , UJ2 D , I D亡5门 2 D , I D . a门2 D l Y 广7I n n2 D7 GN D U8 9 J2 Y 引出端符号名称见 本规范1 1 . 4 条。 标志: 按 G B 4 5 8 9 . 1 第 2 . 5 条及本 规范第6章。 2 简要说明 双极型选择器 半导体材料: 硅 封装: 空封、 非空封 逻辑图、 功能表见本规范第1 1 章。 品种 了 0- 7 0' C ( C) 一 5 5 1 25 ( M ) 陶瓷直插( D )CT5 4 1 5 3 MD 黑瓷直插( J )CT7 4 1 5 3 C JCT5 4 1 5 3 MJ 塑料直擂( P )C T7 4 1 5 3 CP 曰 I I ti 21 _2 3 1 4 q1 3 51 2 f I I 71 nI a s 多层陶瓷扁平( F )CT5 4 1 5 3 MF 3 质量评定类别 .，i A.，B.，C 1 47 S J / T 1 0 0 8 1 -9 1 4 极限值( 绝对最大额定值) 若无其他规定， 适用于全工作温度范围。 条款号参数符 号 数值 单 位 ! 最小最大 4 . 1 工作环境温度 5 4 Ta mb 一 5 51 2 5 07 07 4 4 . 2 贮存温度了 、 1 . 一 6 51 5 0 4 . 3 电源电压 Vc c7 v 4 . 4 输入电压 V,5 . 5 v 4 . 5 多发射极晶体管 输入端司的电压 Vn5 1 5 v 5 电工作条件和电特性 电特性的检验要求见本规范第 8 章。 5 . 1 电工作条件 若无其他规定， 适用于全工作温度范围。 条款号 参数 符 号 数值 一 一 单 位 v 一 一 v v 最小最 t , 习 几丁 5一 州4. 5 5 . 1 . 1 电源 电压 5 4 V1 1 7 4 一， 4. 7 5 , 2 3 25I 一 一一 一 _ 。 一 司 5 . 1 . 2 输入高电平电压V , I 5 . 1 . 3 输人低电平电压 v 了 。 H5 . 1 . 4 输出高电平电流 一 二 。 0 0 刃 尸 A 5 . 1 . 5 输出低电平电流 l o g - 16 m A 5 . 2 电特性 若无其他规定， 适用于全工作温度范围。 规范值 全 整 竺 一 赢4 tl R f+0T C E 一 少 A d, 万: _Er f:.l 犷 川 全 _ 一 Z . 4 一 一土_ 试 验 一一 A3 二 _ _ 1 4 8 S J / T1 0 0 8 1 一9 1 续表 条款号 特性和条件)一 符 号 规 范 值 一位试 验 最 小最 大 5 . 2 . 2 输出低电平电压 V 。=最小叭1 !Z V Vu=0. 8 V1(以=飞 6 mA ! V ) 一 一 VA 3 5 . 2 ， 3 输入钳位电压 V cc=最小JI 、 二一1 2 mA t _ Vl 一 1 . 5VA 3 5 . 2 . 4 输入高电平电流 V I . =聂士V川=2 . 4 V 1 1 日4 0 科A A 3 52 . 5 输入低电平电流 V二 摄 士V ，= 0 V l t l 一 1 6mAA3 5 . 2 . 6 最大输入电压下的输入电流 ， 产_ 击昌 4户、 产 _:丫 尹 八 1m A A 3 52 . 7 r ( 月兀 尸 、r【JJ ， 输 出短路电流 V . = 荟 十 万 歹 ! 的m 人A 3 群 5 . 2 . 8 电谋电流 V c 。 =最大 输出端开路其他输入端接 二 1 ( ( 1 0 蓄 m AA 3 74 Rn 地 传输时间 C走公1 5 P FR去 今4 O 0 n 了邢山=2 5 V以=S V l - 1 ) Y n吕 tl 性 _ 卜 l 8 A Y tJ， Hl 2 3 自 ， t H 3 4 八 H 上3 4 1 。 一 3 0 注 1) v 。为最小或最大， 按本规范第弓1 . 1 条。 6 标志 器件上的标志示例 认证合格标淑适用时口 弓 。出 。习甘 二口 C T7 4 1 5 3 C P 8 9】6 一 型号 质州 平定获资业 制造单位商标 检验批识别代码 1 49 S J / 'e 1 0 0 8 1 一9 1 若受器件尺寸限制时， 允许将“ 检验批识别代码” 、 “ 质量评定类别” 标在器件背面。 7 订货资料 若无其他规定， 订购器件至少需要下列资料: a . 产品型号; b . 详细规范编号; c . 质量评定类别; d . 其 他 。 8 试验 条件和检验要求 抽样要求: 根据采用的质量评定类别， 参照 G B / T 1 2 7 5 0第9章的有关规定。 A组检验的抽样要求 分组 AQL “类 I类 I LAQL1 I .AQI A 1亚0 . 6 5 狂 0 6 5 A 2百0 . 1 习 0. 1 A 3刃0 . 1 5 刃 0 . 1 5 A 3 aS 41 . 0541 . 0 人 3 bS 41 . 0S 41 . 0 A 4S 41 . 0S41 . 0 B组、 C组和D组检验的抽样要求 分组 l : I P U .类 ，类 ABC BI1 51 51 51 5 C 12 02 02 02 0 C2 b1 51 51 51 5 C 31 5l 51 51 5 B4 C41 01 01 01 0 B5 C5 1 01 01 01 0 C G 2 02 02 02 0 C71 51 5 1 51 5 B8 C81 0口 7 1 0 C91 55 71 5 1 5 0 一 S J / T 1 0 0 8 1 -9 1 续表 分组 L T YU A 类 .类 ABC C1 12 02 02 02 0 B 212 01 O1 01 5 C2 32 01 01 52 0 C2 42 01 01 520 D81 0571 0 A 组逐批 全部试验均为非破坏性的( 见GB 4 5 8 9 . 1 第3 . 6 . 6条) 检验或试验引 用 标 准 条件 若无其他规定， 7 -b = 2 5 'C ( 见G B 4 5 8 9 . 1第4 . 1 条) 检验要求 规 范 值 A1 分组 外部目检GB 4 5 8 9 . 1. 4 . 2 . 1 . 1 条 标志清晰， 表面无损伤 和气孔 A 2分组 2 5 下的功能验证按本规范 5 . 2 . 1 条, 5 . 2 . 2 条和 1 1 . 3条 按本规范 5 . 2 . 1 条、 5 . 2 . 2条和 1 1 . 3条 A3 分组 2 5 下的静态特性GB 3 4 3 9 半导体集 成电路 T 'r i，电路测 试方法的基本原理 l 按本规范5 . 2 . 1条至5 . 2 . 8条和 1 0 . 1条 按本规范 5 . 2 . 1条至 5 . 2 . 8条 A3 u 分组 最高工作温度 下的静态特性 T . . b 按本规范 4 . 1条规定的最 大值。条件: 同A3 分组 同 A3分组 同A3分组 A3 b分组 最低工作温度下的 静态特性 G1 3 3 4 39 T . m b 按本规范 4 . 1条规定的最 小值.条件: 同A3 分组 A4 分组 2 5 下的动态特性GB 3 4 3 9 按本规范5 . 29条按本规范5 . 2 . 9条 15 1 s .J / 'r 1 0 0 8 1 -9 1 B组逐批 标有( D) 的试验是破坏性的( 见G B 4 5 8 9 . 1 第 3 . 6 . 6 条) 检验或试验 引 用标 准 条件 若无其他规定 7 ; . ,b = 2 5C , ( 见GB 4 5 8 9 . 1 第4 . 1 条) 检验要求 规 范 值 B l分组 尺寸 GB 4 5 8 9 . 1 , 4 . 2 . 2条及附录B 按本规范第 1 章 B 4分组 可焊性 G B 4 5 9 0 半导体集成电 路机械和气候试验方法 2 . 5条 按方法 b ( 槽焊法) 按 25 . 6 条 B S 分组 温度快速变化 a .空封器件 随后进行: 电测量 密封 细检漏 粗检漏 b .非空封和环氧 封的空封器件 随后进行: 外部 目检 稳态湿热 电测量 GB 4 5 9 0 , 3 . 1 条 GB 4 5 9 0 , 3 . 1 1 条或 3 . 1 2 条 GB 4 5 9 0 , 3 . 1 3条 GB 4 5 9 0, 3 . 1条 GB 4 5 8 9 . 1 . 4 . 2 . 1 . 1 条 GB 4 5 9 0 , 3 . 7 条 温度按本规范 4 . 2 条规定 循环次数 1 0次t二5 mm 同A2 , A3 分组恢复 2 11 按规定 按规定 温度按本规范第 42 条规定 循环次数: 1 0次h = 5 mm 按规定 严格度A 时I旬: 2 4 11 同A2 , A 3分组 同 A 2 , A3 分组 同 A1分组 同A2 , A3 分组 B 8分组 电耐久性 ( 1 6 8 1 1 ) 最后测量 ( 同 A 2 , A 3 和 * ; 31 t 。一 l G B 4 5 9 0 . 4 . 7 3 J c 一一 厂 一 一 一7 S, b 按本规范 4 . 1 条规定的最 一 大 值 。 其 他 按 本 规 范1 0 . 3 条 一 A ' A -' , A 3 。 A 4 5 ? 4 1 同 A2 , A3和 A4分 组 最后 测盆 ( 同A 2和A3分组)同 A2 , A A3分组 同A 2和A3分组 C R RL分组 就1 3 4 . 1 3 5 , 1 3 8和13 2 1 分组提供汁数检查结果 1 5 2 一 S J / T 1 0 0 8 1 -9 1 C组周期 标有( D ) 的试验是破坏性的( 见GB 4 5 8 9 . 1 第 3 . 6 . 6 条) 检验或试 验引 用 标 准 条件 若无其他规定， T , m b =2 5 '0 ( 见G B 4 5 8 9 . 1第4 . 1 条) 检验要求 规 范 值 C 1 分组 尺寸G B 4 5 8 9 . 1 , 4 . 2 . 2 条及 附录 B 按本规范第1章 C 2 b分组 最高和最低工作温 度下的动态特性 G B 3 4 3 9 温度按本规范4 . 1 条 同 A4分组 规范值为 A4 分组最大 值的 1 . 5倍， 最小值的 0 .8倍 C 3 分组 引线强度 拉力( D) 弯曲( D) G B 4 5 9 0 , 2 . 1 条 G B 4 5 9 0 , 2 . 2 条 外加力的值按2 . 1 条表 外加力的值按 2 . 2条 表 按 2 . 1 . 5 条 无损伤 一卡一 C4分组 耐焊接热( D) 最后测t ( 同A3 分组) GB 4 5 9 0, 2 . 6条按方法 1 ( 2 6 0 0槽焊 ) 同 A3分组 C S 分组 ， 温度快速变化( D) 斗 n !.一 S 1 GB 4 5 9 0 , 3 . 1 条 l 认=一6 5 ' 0 7 ' x =1 5 0 ' C 循环次数: 5 0 0 q=5 n u n( 非空封和环氧 封的空封器件) 同 AI分组 严格 度 A 时 1 旬: 2 4 6 同 A3分组同 A3分组 加速度: 按规定 同 A3分组同 A3分组 15 3 s J / T 1 0 0 8 1 -9 1 C组周期 ( 续) 检验或试验引用 标 准 条件 若无其他规定 To m b = 2 5 0C ( 见G B 4 5 8 9 . 1第4 . 1条) 检验要求 规 范 值 C7 分组 稳态湿热( D) 空封器件 b 非空 封 器件 最后测盆 ( 同 A 2 , A3 分组) G B 4 5 9 0 , 3 . 6 条 G B 4 5 9 0 , 3 . 7 条 严格度 D: 5 6 d 严格度 A， 时IM 1 0 0 0 1, 同 A 2 , A3 分组 同 A 2 , A3 分组 C 8 分组 电耐久性( 1 0 0 0 6 ) 最后测t ( 同B 8 分组) G B 4 5 9 0 . 4 . 7条 一 同 B S分组 同 B 8 分 组 同B 8分组 C 9 分组 高温贮存 最后测量 ( F 1 B 8 分 组 ， G B 4 5 9 0 , 3 . 3条 一 一 一 温度按7 '. , 砂 m a x ) 时间 1 0 0 0 1, 同B S分组同B 8分组 Cl l 分组 标志耐久性 GB 4 5 9 0 , 4 . 3 条按方法 2 ， 溶液: A型按GB 4 5 9 0 , 4 . 3 . 2 条 C2 3分组 抗溶性( D) ( 非空封器件) GB 4 5 9 0 , 4 . 4 条按G B 4 5 9 0 , 4 . 4 . 2条按G B 4 5 9 0 , 4 . 4 . 2 条 C2 4 分组 易嫩性( D ) ( 非空封器件) GB 4 5 9 0 . 4 . 1 条按 G B 4 5 9 0 . 4 . 1 . 2条按G B 4 5 9 0 , 4 . 1 . 2 条 C R R L分组 就C 2 b , C 3 , C 4 , C S , C G , C 7 , C 8 , C 9 ,C1 1 , C2 3 , 和C 2 4分组提供计数俭查结果。 注 1 ) 连续三次通过后， 周期可放宽为一年一次. 9 D组 D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行， 其后每年进行一次。 1 54 S J % T 1 0 0 8 1 -9 1 检验或试验引 用 标 准 检验要求 规 范 值 D 8 分组 电耐久性( D ) 条件 若 无 其 他 规 定 ，了 ，一 、 一 2 5 一 ( 见G B 4 5 8 9 . 1第4 . 1条)1 - 一下 - GB 4 5 9 0第 4 . 7 条 最后 测t ( 同B 8 分组) u 类 2 0 0 0 11 ，类 3 0 0 0 11 其他同B 8 分组 同 BS分组同 B8分组 附加资料 1 静态特性的测量 静态特性的测量按G B 3 4 3 9 半导体集成电路 T T L电路测试方法的基本原理 2 动态特性的测量 2 . 1 动态特性的测量按GB 3 4 3 9 2 . 2负载线路 1010101010 V I I 4 0 0 0 接被测输出端 1 0 . 3 电耐久性试验线路 V. =3 V f o =l 0 0 k Hz f二5 0 k Hz f, =2 5 k Hz f , 二1 2 . 5 k l l z V, , = 5 V 2=4 0 0 8 15 5 S J / T 1 0 0 8 1 一9 1 万v u 万 v 1, 1 1 型号说明 1 1 . 1 逻辑符号 1 56 S J / T 1 0 0 8 1 - 9 1 1 1 . 2 逻辑图 1 1 . 3 功能表 LH 只X 人养 XX LH LL LL 1 14引出端符号名 称 引出端符号名称 I n。 一1 1 J , . 2 I X- 2 1 ) _土 _ _ A . .A, 数据输入端 选 择输入端 1 S T . 2 S T I Y . 2 Y 七 _ 一 一 选 通输 入 端 ( 低电 平 省 效) 数据输出端 一1 5 7 一 s ,l / T 1 0 0 8 1 - 9 1 附录A 筛 选 ( 补充件) 1 类器件 生产厂自行规定筛选条件。 ，类器件 筛选项目和条件如下: 等级 A等级B 等级 C 一 内部目检 ! G廿 4 59 0 4 . 6条 高温稳定 GB 4 59 0 3 . 3条， 1 5 0'C . 9 6 1, 温度快速变化 G B 4 5 9 0 3 . 1 条 一6 5 .1 5 0' C 1 0次 稳态加速度” GB 4 5 9 0 2 . 1 0条 密封， GB 4 5 9 0 3 . 1 2 条和 3 . 1 3条 老化前电测量 同A3分组 易 叮 除不合格品 老化 GB 4 5 9 0 峨 . 7条 Te m b 最大、 2 4 0 1, 老化后电测量 同A3 分组， 剧除不合格品。 若 不 合 格 品 率 大 于 5 %. 则该批拒收. 注 1 ) 不适用于非空封器件. 内部目检 G B 4 5 9 0 4. 6条 高温稳定 G B 4 5 9 0 3 . 3 条， 1 5 0' C , 48 1, 温度快速变化 GB 4 5 9 0 3 . 1 条 一6 5 - -1 5 0'C 1 0次 稳态加速度” GB 45 9 0 2. 1 0条 密封， ， GB 4 5 9 0 3 . 1 2条和3 . 1 3 条 老化前电测量 同 A3分组 剔除不合格品 老化 GB 4 5 9 0 4 . 7条 T e m b 最大、 1 6 8 11 老化后电测t 同A3 分组， 剧除不合格品。 若 不合 格 品率 大 于 5 环， 则该批拒收. 15 8 S J / T 1 0 0 8 1 - 9 1 附 加说明 : 本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。 本标准由北京八七八厂负责起草。 本标准主要起草人: 孙人杰。 i 5 9