[电子标准]-SJT 10085-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54H74／CT74H74型双上升沿D触发器 (有预置端,清除端)1.pdf

L - i 中华人民共和国电子工业行业标准 S J / T 1 0 0 4 2 1 0 0 4 8 -9 1 S J / T 1 0 0 7 8. 1 0 0 8 6 -9 1 电子元器件详细规范 半导体集成电路T T L电路 ( 一 ) 1 9 9 1 一 0 4 - 0 8 发布1 9 9 1 一 0 7 - 0 1 实施 中华人民共和国机械电子工业部发布 中 华 人 民 共 和 国 电 子 工 业 行 业 标 准 电子元器件详细规范 半导体集成电路C T 5 4 H 7 4 / C T 7 4 H 7 4 型 双上升沿 D触发器( 有预置端、 清除端) S I / T 1 0 0 8 5 -9 1 D e t a i l s p e c i f i c a t i o n f o r e l e c t r o n i c c o mp o n e n t s S e mi c o n d u c t o r i n t e g r a t e d c i r c u i t C T 5 4 H7 4 / C T 7 4 H 7 4 d u a l D - t y p e p o s i t i v e e d g e - t r i g g r e d f l i p - f l o p w i t h p r e s e t a n d c l e a r 本规范规定了半导体集成电路C T 5 4 H7 4 / C T 7 4 H 7 4 型双上升沿 D触发器( 有预置端、 清 除端) 质量评定的全部内容。 本标准符合G B 4 5 8 9 . 1 半导体器件分立器件和集成电路总规范 和GB / T 1 2 7 5 0 半导 体集成电路分规范( 不包括混合电路) 的要求. 中华人民共和国机械电子工业部 1 9 9 1 - 0 4 - 0 8 批准1 9 9 1 - 0 7 - 0 1实施 2 04 S J / T 1 0 0 8 5 -9 1 中华人民共和国机械电子工业部 评定器件质量的依据: G B 4 5 8 9 . 1 半导体器件分立器件和 集成电路总规范 G B / T 1 2 7 5 0 半导体集成电路分规范 ( 不包括混合电路) S J / T 1 0 0 8 5 - 9 1 C T 5 4 H7 4 / C T 7 4 H7 4 型双上升沿D触发器详细规范 订货资料: 见本规范第 7 章。 机械说明简要说明 外形依据: G B 7 0 9 2 半导体集成电 路外形尺寸 。 外形图: GB 7 0 9 2 D型 5 . 3条及 5 . 3 . 1 条 J型 5 . 4 条及 5 . 4 . 1 条 P型 5 . 5 条及 5 . 5 . 1 条 F型 5 . 1 条及 5 . 1 . 1 条 双极型触发器 半导体材料: 硅 封装: 空封、 非空封 逻辑图、 功能表: 见本规范第 1 1 章。 品种 : 引出端排列 : I Ro I D 1 (P l s Q ! Q 乙 N D v 2 R, 2 D Z CP 2 Sp 2 O Z 0 拭 0 700 C ( C) 一 5 5- 1 250 C ( M ) 陶瓷直插( D) CT5 4H74 MD 黑瓷直插Q)C T7 4 H7 4 C J C T5 4 H7 4 MD 塑料直插( P )CT7 4 H74 CP 多层陶瓷扁平( F )CT5 4H74 MF 引出端符号名称见本规范 1 1 . 4 条. 标志: 按GB 4 5 8 9 . 1 第 2 . 5 条及本 规范第6章。 质量评定类别 ，A,，B，C 一2 05 一 S J / T 1 0 0 8 5 - 9 1 4 极限值( 绝对.大颇定值) 若无其他规定， 适用于全工作温度范围。 条款号参致符 号 数值 单位 最小最大 4 . 1 工作环境温度 5 4 T6 一 5 5 1 2 5 07 07 4 刁2贮存温度 T . 恤 一 6 51 5 0 4 . 3电源电压V+ 7v 4 . 4输入电压V, 5 . 5v 4 . 5 多发射极晶体管 输入端间的电压 V. 5 . 5 v 5 电工作条件和电特性 电特性的检睑要求见本规范第 8 章。 5 . 1 电工作条件 若 无其他规定 ， 适用于全工作温度范 围。 条款号参数符 号 数值 单位 最小最大 5 . 1 . 1电源电庄 5 4 V+ 4 . 55 . 5 v 4 . 7 55 . 2 57 4 5 . 1 . 2输入高电平电压Va 2v 5 . 1 . 3 输入低电平电压 V, , 0 . 8v 5 . 1 . 4 输出高电平电流 I . .一 l m A 5 . 1 . 5输 出低 电平 电流I o12 0 . A 5 . 1 . 6脉冲宽度 CP= H 1 w 1 5 n sCP= L1 3 . 5 2 5R D或乳=L 5 .1 . 7建立时间 D= H-C P个 e 吕 亡 L 1 0 ns 1 5 D = L -C P 个 5 . 1 . 8 保持时间名 H5n 3 一20 6 一 S J / T 1 0 0 8 5 -9 1 5 - 2 电特性 若无其他规 定， 适用于全工作 温度范围. 条款号特 性 和 条 件 ， 符号 规范值 单 位 试 验 最 小最 大 5 . 2 .1 输出高电平电压 V-=最小V ,。 二2 V Vu . =0 . 8 V I o x =一1 .A Vo x 2 . 4VA 3 5 . 2 . 2 输出低电平电压 V-=最小V , x =2 V Va=M V I o , . =20 mA Vo t 0 . 4VA 3 5 . 2. 3 墉入钳位电压 V。二最小I ,n =-8 mA v一 1 . 5 VA 3 5 . 2 . 4 输人高电平电流 v 。= 最大 Vm=2 . 4 V D 1 f 5 0 尸 A A3 1 5 0 RD 1 0 0So 1 0 0C P 5 . 2 . 5 输入低电平电流 v 。 =最 大 Vu =0 . 4 V D I x 一 2 . AA3 一 4RD 一 2蕊 - 4 CP 5 . 2 . 6 最大翰入电压下的输入电流 v 二二最大 V=5 . 5 V 1 , 1. A'A 3 5 . 2 . 7 输出短路电流 V -二 最大 l o , 一 4 0一 1 0 0m 人A 3 5 . 2 . 8 电撅电流 V 。二最大输出端开路 ( 平均每个触发器) 5 4 1 - 2 1 m AA 3 2 5 7 4 5 . 2 . 9 最高工作频率 负=2 5 p F R , -2 8 0 Q T. mb =2 5 ' C V-=5 V fm. . 3 5 M HzA 4 5 . 2 . 1 0 传输时间 CL =2 5 p F Rc =2 8 0 11 7' . mb =2 5 ' C Vc c =5 V S o - Q S o -Q t 凡 “ 2 0 nSA 4 t - 一 3 0 R . - Q R. -Q I P L H 2 0 t - 3 0 C P - - Q I II t r i HI S t P HL 一 一2 07 一 S J / T 1 0 0 8 5 -9 1 注: 1 ) V c c 为最小或最大， 按本规范第 5 . 1 . 1 条. 6 标志 器件上的标志示例: 认证合格标表适用叻 引 出 。 尸 下 卜口 一9916 侧适甲位商标 曰 一-州卜 CT 7 4 H 7 4 C P . ·型号 质盆评定类别 植胜批识别代码 若受器件尺寸限制时， 允许将“ 检验批识别代码” 、 “ 质t评定类别” 标在器件背面。 了 订货 资料 若无其他规定， 订晌器件至少需要下列资料: 8 . 产品型号; b . 详细规范编号; c . 质 R评定类别， d . 其他。 8 试 验条件和检验要求 抽样要求: 根据采用的质I评定类别， 参照G B / T 1 2 7 5 0 第9 章的有关规定. A组检验的抽样要求 分组 AQL I类 1类 I LAQL 1 1 AQL A ll0 . 6 5 I0 . 6 5 A 2l0 . 1 I0 . 1 A 3I0 . 1 5 I0 . 1 5 A3 aS41 . 0S41 . 0 A3 6S 41 . 0S41 . 0 A 4S 41 . 0 S41 . 0 20 8 S J / T 1 0 0 8 5 -9 1 B组 , C组和 D组检验的抽样要求 分组 L T Y U 百类 I类 人BC B11 51 51 51 5 C12 02 02 02 0 C2 b1 51 51 51 5 C31 51 5几 51 5 B4 C 41 01 01 01 0 B5 CS1 01 01 01 0 C62 02 02 02 0 C 71 51 51 51 5 BS CS1 0571 0 C9 1 5 571 5 Cl l2 02 0 2 02 0 B2 12 01 0 1 01 5 C2 32 0 I 1 52 0 C2 42 0 1 0 - 一 ，1 52 0 O81 0 571 0 A组逐批 全部试验均为非破坏性的( 见G B 4 5 8 9 . 1 第3 . 6 . 6 条) 检验或试验引 用 标 准 条件 若无其他规定， Te m b = 2 5 L ( 见G B 4 5 8 9 . 1 第4 . 1 条) 检验要求 规 范 值 Al 分组 外部目检GB 4 5 8 9 . 1, 第 4 . 2 . 1 . 1 条 标志清晰， 表面无损伤 和气孔 A2 分组 2 5 下的功能验证按本规范 5 . 2 . 1 条, 5 . 2 . 2 条和 1 1 . 3条 按本规范 5 . 2 . 1 条、 5 . 2 . 2条和 1 1 . 3条 A3分组 2 5 下的静态特性G13 3 4 3 9 半导体集 成电路 T T1，电路测 试方法的基本原理 按本规范5 . 2 . 1 条至5 . 2 . 8 条和 1 0 . 1 条 按本规范 5 . 2 . 1条至 5 . 2 . 8条 20 9 一 S J / T 1 0 0 8 5 - 9 1 A组逐批( 续 ) 检脸或试验 引 用 标 准 条件 若无其他规定， T . . b = 2 5 C ( 见GB 4 5 8 9 . 1 第 4 . 1 条) 检验要 求 规 范 值 A 3 a 分组 最高工作温度 下的 静态特性 GB 3 4 3 9T . - b 按本规范 4 . 1 条规定的最 大值。条件 同A 3分组 同A3 分组 A 3 b分组 最低工作温度下的 静态特性 GB 3 4 3 9 T . . b 按本规范 4 . 1 条规定的最 小值. 条件: 同A 3 分组 同A3分组 A 4分组 2 5 下的动态特性GB 3 43 9 按本规范 5 . 2 . 9 条和 5 . 2 . 1 0 条按本规范 5 . 2 . 9条和 5 . 2 . 1 0 条 B组逐批 标有( D ) 的试验是破坏性的( 见G B 4 5 8 9 . 1 第 3 . 6 . 6 条) 条件 检验 或试 验引 用 标 准若无其他规定. 7 ' . m b =2 5 'C ( 见G B 4 5 8 9 . 1第4 . 1 条) 检 验要求 规 范 值 B l 分组 尺寸 GB 4 5 8 9 . 1, 4 . 2 . 2 条及附录B 按本规范第 1章 B 4分组 可焊性G B 4 5 9 0 半导体集成电路 机械和气候试验方法 2 . 5条 按方法 b ( 槽焊法) 按 2 . 5 . 6 条 B 5 分组 温度快速变化 a .空封器件 随后进行 : 电测t 密封: 细检漏 GB 4 5 9 0, 3 . 1条 G B 4 5 9 0 , 3 . 1 1 条或3 . 1 2条 温度按本规范第4 . 2条规定 循环次数: 1 0次t一5 min 同A2 、 人3分组恢复 2 1 , 按规定 同A 2 , A3分组 粗检漏 b .非空封和环氧 封的空封器件 随后进行: 外部目检 稳态 湿热 GB 4 5 9 0, 3 . 1 3条按规 定 G B 4 5 9 0 , 3 . 1 条 G B 4 5 8 9 . 1 , 4 . 2 . 1 . 1 条 GB 4 5 9 0, 3 . 7条 温度按本规范第4 . 2条规定 循环次数: 1 0 次 = 5 m in 按规定 严格度 A 时间 2 4 h 同A2 , A3分组 同 A1分组 电侧t同A 2 , A3分组 21 0 s ,1 / T 1 0 0 8 5 - 9 1 B组 一 一 逐 批( 续 ) 检验或试验引 用 标 准 B 8分组 电耐 久性 ( 1 6 8 h) 最后侧t ( 同 A 2 , A3和 A 4分 组 ) GB 45 9 0, 4 . 7条 条 件 【若 无 其 他 规 定 ， 了 a m b 一 “ 5 *C 一 M G B 4589. 1 T, 4. 1 5& ) 7 r - 按 本 规 范咭 · 条 规 定 的 最 大 值 ， 其 他 按 本 规 范1 0 . 3 条 检验要求 规 范 值 同 A2 , A3和 A4分组 同A2 , A3 和A4 分组 B 2 1 分组 高压熬汽(D) ( 非空封器件) 最后测t ( 同A2和人3 分组) GB 4 5 9 0, 4 - 5条 时间 : 2 4 h 同A2 和 A3 分组 C RR L分组就B 4 , B 5 , B 8 和 B 2 1 分组提供计数检查结果. C组周期 标有( D ) 的试验是破坏性的( 见GB 4 5 8 9 . 1第3 . 6 . 6 条) 检验或试验引 用 标 准 条件 若无其他规定， la m b =2 5 r ( 见G B 4 5 8 9 . 1 第 4 . 1 条) 检验要求 规 范 值 C1 分组 尺寸 GB 4 5 8 9 . 1 , 4 . 2 . 2 条及 附录 B 按本规范第1章 C2 b分组 最高和最低工作温 度下的动态特性 G B 3 4 3 9 温度按本规范第4 . 1条 同A4 分组 规范值为A4分组最大 值的1 . 5 倍， 最小值的 0 . 8 倍 C 3分组 引线强度 拉力 ( D) 弯A ( D ) G B 4 5 9 0 . 2 . 1 条 G B 4 5 9 0， 2 . 2条 外加力的值按2 . 1条表1 外加力的值按2 . 2条表2 按 2 . 1 . 5条 无损伤 C 4分组 耐焊接热( D 最后测t ( 同A3 分组) GB 4 5 9 0 , 2 . 6 条按方法 1 ( 2 6 0 'C榴焊) 同A3 分组同人3分组 一21 1 一 S J / T 1 0 0 8 5 -9 1 C 组 周期( 续 ) 检验或试验引 用 标 准 条件 若无其他规定， T e v ,b = 2 5 'C ( 见 G B 4 5 8 9 . 1 第 · ， 条 一 检验要求 规 范 值 C 5分组” 温度快速变化( D) ( 非空封和环氧 封的空封器件) 随后进行 外部目检 椒态湿热 电侧t ( 同A 3分组) GB 4 5 9 0 , 3 . 1 条 GB 4 5 8 9 . 1 . 4 . 2 . 1 . 1 条 G B 4 5 9 0 , 3 . 7 条 TA =一6 5 ' C了e = 1 5 0'C 循环次数 5 0 0 t - - 5 n u n 严格度A 时间: 2 4 11 同 A 3分组 同A1 分组 同 A3分组 C 6 分组曰 稳态加速度( D) ( 空封器件) 最后测t ( 同A 3分组) G B 4 5 9 0 , 2 . 1 0 条加速度: 按规定 同A3分组同 A3分组 C 7分组 稼态湿热( D) z空封器件 b .非空封器件 最后测t ( 同A 2 , A3 分组) G B 4 5 9 0 , 3 . 6 条 G B 4 5 9 0 , 3 . 7条 严格度D: 5 6 d 严格度A， 时间 1 0 0 0 1 j 一 同A2 , A3分组 C 8 分组 电耐久性( 1 0 0 0 1 ) 最后测盆 ( 同B 8分组) G B 4 5 9 0 , 4 . 7 条同B 8分组 同 B8分组同 B8分组 C 9 分组 高温贮存 最后 测t ( 同B 8分组) G B 4 5 9 0 , 3 . 3条 温度按7 's ,8 ( mx x ) 时间: 1 0 0 0 1, 同 1 1 8分组 同 B “ 分 组 C i l分组 标志耐久性G B 4 5 9 0 , 4 . 3 条 按方法2 , 溶液: A型 按 G B 4 5 9 0 , 4 . 3 . 2 条 一 C 2 3分组 抗溶性( D) ( 非空封器件) G B 4 5 9 0 , 4 . 4 条按GB 4 5 9 0 , 4 . 4 . 2 条按GB 4 5 9 0 , 4 . 4 . 2 条 一2 12 一 s J / 'r 1 0 0 8 5 -9 1 C组一 一 周期( 续 ) 检验或试验引 用 标 准 条件 若无其他规定， 7 ' a m b =2 S C ( 见GB 4 5 8 9 . 1第4 . 1 条) 检验要求 规 范 值 C 2 4分组 易燃性( D) ( 非空封器件) G B 4 5 9 0 , 4 . 1条按GB 4 5 9 0 , 4 . 1 . 2条 按 G B 4 5 9 0 , 4 . 1 . 2 条 C R R L分组就C2 6 , C3 , C4 , C5 , C6 , C7 , C 8 , C 9 , C 1 1 , C 2 3 和C2 4 分组提供计数检查结果. 注 l )连续三次通过后， 周期可放宽为一年一次. 9 D组 D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行， 其后每年进行一次。 1条件 检验或试验引 用 标 准若无其他规定， 7 '. . b =2 5 ( 见 GB 4 5 8 9 . 1第 4 . 1条) 检验要求 规 范 值 D 8 分组 电耐久性( D) G B 4 5 9 0第4 . 7条 最后测量 ( 同B 8分组) 0类2 0 0 0 11 夏类: 3 0 0 0 1, 其他同B 8分组 同 BS分组 同 B8分组 附 加资料 1 静态特性的测量 静态特性的测量按GB 2 动态特性的测量 2 . 1 动态特性的侧量按 2 . 2负载线 路 nU卜日 月.卫月 3 4 3 9 半导体集成电路 T T L电路测试方法的基本原理 。 GB 3 43 90 101010 咋 2 8 0 4 接被汉 1 输出端 2 5 0 F 2 13 s J / T 1 0 0 8 5 - 9 1 1 0 . 3电耐久性试验线路 Vm =3 V f, =l 0 0 k Hz 几=5 0 k Hz Vc c =5 V R=2 8 0 5 2 4. 5V f , f , 4 5 V 1 1 型号说明 1 1 . 1 逻辑 符号 21 4 s J / T 1 0 0 8 5 - 9 1 1 1 - 2逻辑图( 1 1 2) 1 1 . 3 功能表 翰入 蕊R C P DQO L H X XHL H L X X1 , H L L X XH“H， H H个H H L H H个L1H 个、IQ 。Q o 注: 1 )当乳_ 获。同时回复到H状态时， 输出不确定， 21 5 s J / T 1 0 0 8 5 -9 1 1 1 . 4 引 出端符号 名称 引出端符号 1 CY _ 2 CY 1 D_ 2 D 1 Q, 2 Q. 1 Q, 2 Q I k-1 2 获n 1 氏, 2 S . 名称 时钟输入端 数据输入端 输出端 直接复位端( 低电平有效) 直接置位端( 低电平有效) 一21 6 一 S J / T 1 0 0 8 5 -9 1 附录A 筛选 ( 补充件) I 类器件: 生产厂自行规定筛选条件。 ， 类器件: 筛选项目和条件如下: 等级A等级 B等级 C 内部目检 GB 4 5 9 0 46 条 高温稳定 G B 4 5 9 0 3 . 3条 ， 1 5 0 ' C、 9 6 h 温度快速变化 GB 4 5 9 0 3 . 1 条， 一6 5 -1 5 0 'C . 1 0次 稳态加速度， ， GB 4 59 0 2 . 1 0条 密封， ， GB 4 5 9 0 3 . 1 2 条和 3 . 1 3 条 老化前电测量 同A3 分组 剔除不合格品 老化 GB 4 5 9 0 47条 ， T, m 6 最大、 2 4 0 h 老化后电测量 同A3 分组， 易 9 除不合格品. 若不合格品率大于 5 %， 则该批拒收. 内部目检 G B 4 5 9 0 4 . 6 条 高温稳定 G B 4 5 9 0 3 . 3条 ， 1 5 0 ' C , 4 8 h 温度快速变化 GB 4 5 9 0 3 . 1 条， 一6 5. 1 5 0 'C 1 1 0 次 稳态加速度” GB 4 5 9 0 2 . 1 0 条 密封 ， GB 4 5 9 0 3 . 1 2 条和 3 . 1 3条 老化前电测量 同A 3分组 易 叮 除不合格品 老化 GB 4 5 9 0 4 . 7条 ， T, m n 最大、 1 6 8 h 老化后电测量 同A3 分组， 剔除不合格品. 若不合格品率大于 5 %. 则该批拒收。 注: 1 )不适用于非空封器件。 21 7 S J / T 1 0 0 8 5 - 9 1 附加说明: 本标准由全国集成电路标准化分技术 委员会提出。 本标准由北京八七八厂负责起草。 21 8