[电子标准]-SJT 10080-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电器CT5442／CT7442型4线-10线译码器 (BCD输入)1.pdf
L - i 中华人民共和国电子工业行业标准 S J / T 1 0 0 4 2 1 0 0 4 8 -9 1 S J / T 1 0 0 7 8. 1 0 0 8 6 -9 1 电子元器件详细规范 半导体集成电路T T L电路 ( 一 ) 1 9 9 1 一 0 4 - 0 8 发布1 9 9 1 一 0 7 - 0 1 实施 中华人民共和国机械电子工业部发布 中 华 人 民 共 和 国 电 子 工 业 行 业 标 准 电子元器件详细规范 半导体集成电路C T 5 4 4 2 / C T 7 4 4 2 型 4线一1 0 线译码器( B C D输人) S J / T 1 0 0 8 0 - 9 1 De t a i l s p e c i f i c a t i o n f o r e l e c t r o n ic c o mp o n e n t s S e mi c o n d u c t o r i n t e g r a t e d c i r c u i t CT5 4 4 2 / CT 7 4 4 2 4 - l i n e - t o - 1 0 - l i n e d e c o d e r ( BC D- t o - d e c i ma l ) 本规范规定了半导体集成电路 C T 5 4 4 2 / C T 7 4 4 2型4线一1 0线译码器( B C D输入) 质量 评定的全部内容。 本标准符合G B 4 5 8 9 . 1 半导体器件分立器件和集成电路总规范 和G B / T 1 2 7 5 0 ( 半导 体集成电路分规范( 不包括混合电路) 的要求。 中华人民共和国机械电子工业部 1 9 9 1 - 0 4 - 0 8 批准1 9 9 1 - 0 7 - 0 191 1 32 S J / T 1 0 0 8 0 -9 1 中华人民共和国机械电子工业部 评定器件质量的依据: G B 4 5 8 9 . 1 半导体器件分立器件和 集成电路总规范 G B / T 1 2 7 5 0 半导体集成电路分规范 ( 不包括混合电路) S J / T 1 0 0 8 0 - 9 1 C T 5 4 4 2 / C T7 4 4 2 型 4 线一1 0线译码器( B C D输入) 详细规范 订货资料: 见本规范第 7 章。 机械说明简要说明 外形依据: G B 7 0 9 2 半导体集成电路 外形尺寸 。 外形图 : GB 7 0 9 2 D型5 . 3 条及 5 . 3 . 1 条 J型5 . 4 条及 5 . 4 . 1 条 P型5 . 5 条及 5 . 5 . 1 条 F型 5 . 1条及 5 . 1 . 1条 双极型译码器 半导体材料: 硅 封装: 空封、 非空封 逻辑图、 功能表观本规范第 n 章。 品种 : 引出端排列 : 叭0扣勺凡工Yg八 拭 0- 7 0' C ( C) 一55 - 1 25' C ( M ) 陶瓷直擂( D) CT5 4 4 2 MD 黑瓷直插( J ) CT7 4 4 2 CJ CT5 4 4 2 MJ 塑料直插( P ) CT74 42 CP 多层陶瓷扁平( F ) C T5 4 4 2 MF 工Y0lyl卜一卜一Y.一h-汽 G ND 引出端符号名称见本规范 1 1 . 4 条。 标志: 按 G B 4 5 8 9 . 1 第 2 . 5 条及本 规范第 6 章。 质 t评定类 别 ，A,，B,，C 一1 33 一 S J / T 1 0 0 8 0 -9 1 4极 限 值( 绝 对 . 大 颇 定 值沙 若无其他规定， 适用于全工作温度范围。 条软号参数符 号 数值 单位 最小最大 4 . 1 工作环境温度 5 4 T. mb 一 5 5 1 2 5 7 407 0 4. 2 贮存温度了:t 一 5 51 5 0 4. 3 电饵电压 v+7v 4. 4 输入电压V.5 . 5 v 4. 5 多发射极晶体管 输入端间的电压 v, ,5 . 5v 5 电工作条件和电特性 电特性的检验要求见本规范第 8 章。 5 . 1 电工作条件 若无其他规定， 适用于全工作温度范围。 条款号参数符 号 数值 单 位 最小最大 5 . 1 . 1电源电压 5 4 V 亡 亡 4 . 55 . 5 v 7 44 . 7 55 . 2 5 5 . 1 . 2 输入高电平电压 v,2v 5 . 1 . 3 输入低电平电压 VI L0 . 8v 5 . 1 . 4 输出高电平电流 I - 8 0 0 拌 A 5 . 1 . 5 墉出低电平电流 l o ,1 6m A 5 . 2 电特性 若无其他规定， 适用于全工作温度范围。 一13 4 一 S J / T 1 0 0 8 0 - 9 1 条款号特性和条件， ， 符号 规范值 单 位 试 验 最 小 最 大 5 . 2 . 1 输出高电平电压 V a二最小V w =2 V V , =0 . 8 v l o x 二一8 0 0 y A vv2 . 4vA3 5 . 2 . 2 输出低电平电压 V c 二最小V , =2 v V. =0 . 8 V I O L =1 6 mA V . L0 . 4vA3 5 . 2 . 3 输人钳位电压 V “最小1 , 二一1 2 mA vu一 1 . 5 v A 3 5 . 2 . 4 输入高电平电流 V -=最大V ， 二2 . 4 V 7,4 0 u A A 3 5 . 2 . 5 输入低电平电流 V -=最大V二 二0 . 4 V 1一 1 . 6爪 AA 3 5 . 2 . 6 最大输入电压下的输入电流 v -最大V , =5 . 5 V 1 ,1. AA 3 5 . 2 . 7 输出短路电流 V-二最大 5 4 t o s 一 2 0一 5 5 . AA 3 7 4一 1 8- 55 5 . 2 . 8 电探电流 V -最大 输出端开路输入端接地 5 4 l c c 41 m AA 3 5 67 4 5 . 2 . 9 传翰时间 Cc =1 5 p F RL . =4 0 0 0 T, mb =25 C Vc c =5 V ( 二级门) 乙 . x2 5 n ，A4 t P X L2 5 ( 三级门) 1 -3 0 1 丫 H L3 0 注 1 ) V 二为最小或最大 按本规范第5 . 1 . 1 条. 6 标志 器件上的标志示例: 适 用 O 9 1t u m“ 1 标 志 - - - j r+一 口 C T7 4 4 2 CP 8 8 1 6皿A 一型号 质月评定类别 制造单位商标 1 35 S J / T 1 0 0 8 0 - 9 1 若受器件尺寸限制时， 允许将“ 检验批识别代码” 、 “ 质量评定类别” 标在器件背面。 了订货资料 若无其他规定， 订购器件至少需要下列资料: 二产品型号; b . 详细规范编号， c . 质f评定类别， d .其他 。 8 试验条件和检验要求 抽样要求: 根据采用的质量评定类别， 参照G B / T 1 2 7 5 0 第9 章的 有关规定. A组检验的抽样要求 分组 AQL ， 类 ， 类 I LAQLILAQL A 1I 0 .6 5 I0 . 6 5 A 2 I 0 .1 二 0 . 1 A 3I0 .1 5I0 . 1 5 AUS41 . 0S41 . 0 A3 bS41 . 0S41 . 0 A4S41 . 0S41 . 0 B组、 C组和 D组检验的抽样要求 分组 L T P D ，类 I类 BC B 1 1 5一 1 51 5 C1 2 0一 2 02 0 C2 b 一 1 51 5 C 3 1 5一1 5一 1 5 B4 C41 0 1 0 B 5 C 51 。一1 。一1 0 C 6一2 。一2 。一2 。一 C 71 5一1 5 I1 5一 B 8 C 8一 一7一 C 9 一57一 C 1 1 2 0一2 。一2 。一 B2 12 0 一1 0 I1 5 C 2 3 一1 5一 C 2 42 0 1 0一1 5一 D8 一5一7一 1 3 6 S J / T 1 0 0 8 0 - 9 1 A 组逐批 全部试验均为非破坏性的( 见GB 4 5 8 9 . I 第 3 . 6 . 6条) 检验或试验引用标准 条件 若无其他规定. 7 '. . b = 2 5 IC ( 见GB 4 5 8 9 . 1第4 . 1 条) 检验要求 规 范 值 Al 分组 外部目检 GB 4 5 8 9 . 1. 4 . 2 . 1 . 1 条 标志清晰， 表面无损伤 和气孔 A2分组 2 5 下的功能验证按本规范 5 . 2 . 1条, 5 . 2 . 2 条和 1 1 . 3条 按本规范 5 . 2 . 1 条、 5 . 2 . 2条和 1 1 . 3 条 人3 分组 2 5 下的静态特性G B 3 4 3 9 半导体集 成电路' r r 1 ， 电路侧 试方法的基本原理 按本规范5 . 2 . 1条至5 . 2 . 8 条和 1 0 . 1条 按本规范 5 . 2 . 1条至 5 . 2 . 8条 A 3 a分组 最高工作祖度下的 静态特性 GB 3 4 3 9 Ta m b按本规范4 . 1条规定的最 大值。条件: 同A3 分组 同 A3分组 A 3 b分组 最低工作温度下 的静态特性 GB 3 4 3 9 T s m b 按本规范4 . 1条规定的最 小值。条件: 同A3 分组 同 A3分组 一 按 本 规 范 5 一 条 A 4 分组 2 5 下的动态特性 GB 3 4 3 9 按本规范5 . 2 . 9 条 B组逐批 标有( D) 的试验是破坏性的( 见G B 4 5 8 9 . 1 第 3 . 6 . 6 条) 检验或试验引用标准若 无 赫定 ， ilkT am b= 25: 一 ( 见 G B 4 5 8 9 . 1 第 4 . 1 条 ， 一 一检验要求 B 1分组 尺寸GB 4 5 8 9 . 1 , 4 . 2 . 2 条及附录 B 按本规范第 1 章 B 4分组 可焊性 G B 4 5 9 0 半导体集成电路 机械和气候试脸方法a 2 . 5 条 按方法b ( 槽焊法) 按25 . c 条 1 3 7 S J / T 1 0 0 8 0 -9 1 B组 逐批( 续 ) 检验或试验引用标 准 条件 若无其他规定， 7 ' . . b =2 5C ( 见G B 4 5 8 9 . 1第4 . 1 条) 检验要 求 规 范 值 B 5分组 温度快速变化 a 空封器件 随后进 行 电测t 密封: 细检漏 GB 4 5 9 0 , 3 . 1 条 GB 4 5 9 0 , 3 . 1 1 条或 3 . 1 2 条 GB 4 5 9 0 , 3 . 1 3 条 GB 4 5 9 0, 3 . 1条 温度按本规范第4 . 2 条规定 循环次数: 1 0 次1 , = 5 min 同A2 , A3分组恢复豁 按 规定 同A2 , A 3分组 粗检漏 b .非空封和环氧 封的空封器件 随后进行: 外部目检 稼态 湿热 按规定 温度按本规范第4 . 2 条规定 循环次数: 1 0 次 1 . = 5 m i n GB 4 5 8 9 . 1 , 4 . 2 . 1 . 1 条 GB 4 5 9 0 , 3 . 7条 按规定 严格度 A 时 间: 2 4 11 同 Al分组 电测t B 8分组 电耐久性 ( 1 6 8 11) 最后测 t ( 同A2 , A3 和 A4 分组 ) 同A2 , A 3分组 同A2 、 人 3分组 GB 4 5 9 0, 4 . 7条T . m b 按本规范 4 . 1 条规定的 最大值， 其他按本规范 1 0 . 3 条 同A2 , A 3和A4 分组 一同A2、一 分 B 2 1 分组 高压熬汽( D ( 非空封器件) 最后恻里 ( 同A2 和A3 分组) GB 4 5 9 0, 4 . 5条 严格度C 时间: 2 4 1 , 同A2 和 A 3分组同A2 和 A 3分组 C R R L分组就B 4 , B 5 , B 8 和 B 2 1 分组提供计数检查结果。 13 8 S J / T 1 0 0 8 0 -9 1 C组周期 标有( D ) 的试验是破坏性的( 见GB 4 5 8 9 . 1 第 3 . 6 . 6 条) 温度快速变化( D) ( 非空封和环氧 封的空封器件) 随后进行: 外部目检 稳态湿热 检验 或试脸弓 I用 标 准 条件 若无其他规定 T. m b =2 5 'C ( 见G B 4 5 8 9 . 1 第4 . 1 条) 位验要求 规 范 值 C 1 分组 尺寸 G B 4 5 8 9 . 1 , d _ 夕 _ 夕各 乃 附 蚤R 按本规范第1章 C 2 6分组 最高和最低工作温 度下的动态特性 -.-产动，.叫卜产一心一一 G B 3 4 3 9 温度按本规范4 . 1 条 同 A4分组 规范值为A4 分组最大 值的 1 . 5 倍， 最小值的 0 . 8倍 C 3 分组 引线强度 拉力( D) GB 4 5 9 0 半导体集成电 路机械和气候试验方法外加力的值按 2 . 1 条表 1按 2 . 1 . 5 条 弯曲( D) C 4 分组 耐焊接热( D ) 最后测t 2 . 1 条. 2 . 2 条 G B 4 5 9 0 , 2 . 6条 a : 外加力的值按 2 . 2 条表 2 按方法 1 ( 2 6 0 'C槽焊) 无损伤 同 A3分组 1 5 0 'C 同 A1“二 电测t ( 同A3 分组) C 6 分组 ， 稳态加速度( D) ( 空封器件) 最后测t ( 同A3 分组) 同 A3分组同 A3分组 加速度 : 按规 定 GB 45 9 0 , 2 . 1 0条 同 A3分组同 A3分组 C7分组 稳态湿热( D) a .空封器件 b .非空封器件 最后测量 ( 同A 2 , A3 分组) GB 4 5 9 0 , 3 . 6 条 GB 4 5 9 0 , 3 . 7条 严格度 D: 5 6 d 严格度 A时间 1 0 0 0 11 同A2 , A3分组 1 39 一 S J / T 1 0 0 8 0 -9 1 C组周期 ( 续) 检验或试验 引 用 标 准 条件 若无其他规定， T a m b =2 5 'C ( 见GB 4 5 8 9 . 1 第 4 . 1 条) 检验要求 规 范 值 C 8分组 电耐久性( 1 0 0 0 1, ) 最后测t ( 同B 8 分组) G B 4 5 9 0 . 4 . 7条同B 8 分组 同 B8分组同B S 分组 C 9分组 高温贮存 最后侧 量 ( 同B 8 分组) G B 4 5 9 0 . 3 . 3 条 温度按Z '. , y ( m x x ) 时间: 1 0 0 0 h 同B 8分组同B 8 分组 Cl l 分组 标志耐久性G B 4 5 9 0 , 4 . 3 条按方法 2 . 溶液 A型按G B 4 5 9 0 , 4 . 3 . 2 条 C 2 3分组 抗溶性( 1) ) ( 非空封器件) G B 4 5 9 0 . 4 . 4 条GB 4 5 9 0, 4 . 4 . 2条按GB 4 5 9 0 . 4 . 4 . 2 条 C 2 4分组 易燃性( D) 非空封器件) G B 4 5 9 0 . 4 . 1 条按GB 4 5 9 0 , 4 . 1 . 2条 按G B 4 5 9 0 . 4 . 1 . 2条 C R RL分组就 C 2 b , C 3 , C 4 , C5 , C6 , C 7 , C 8 , C 9 . C l l , C2 3 、 和C 2 4分组提供计数检查结果. 注 1 )连续三次通过后， 周期可放宽为一年一次 9 D组 D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行， 其后每年进行一次。 检验或试验引用标准 条件 若无其他规定. 7 '. . b =2 5 ( 见GB 4 5 8 9 _ 1 第 4 . 1 条) 检验要求 规 范 值 D 8分组 电耐久性( D) 最后测 量 ( 同B 8分组) G B 4 5 9 0第 4 . 7 条E 类 2 0 0 0 1, . 类 3 0 0 0 6 其他同0 8分组 同 h 8分组 同B 8分组 1 0 附加资料 14 0 S J / T 1 0 0 8 0 - 9 1 1 0 . 1 静态特性的测量 静态特 性的测量按G B 3 4 3 9 半导体集成电 路T T L电路测试方法的基本原理 。 1 0 . 2 动态特性的测量 1 0 . 2 . 1 动态特性的测量按 G B 3 4 3 9 , 1 0 . 2 . 2负载 线路 V I I 5 0 0 Q 接被侧输出端 1 0 . 3 电耐久性试验线路 Vm=3 V f o =l 0 0 k Hz J , =5 0 k Hz f i =2 5 k Hz h=1 2 . 5 k Hz V -二5 V 2二4 0 0 5 2 1 41 S J / T 1 0 0 8 0 -9 1 1 1 型号说明 1 1 . 1 逻辑符号 1 1 . 2逻辑图 1 42 S J / T 1 0 0 8 0 - 9 1 1 1 . 3 功能表 输入 输出 人， A, A, A,Y , YV:Y, Y, Y , Y , Y , Y 。 V ， L L L I L 1 , L H L L H L L L H H L H L I L H L H L H H I L H H H H L I . L H L L H 1 . H H H H H H H H H H I _ H H H H H H H H H H L H H H H H H H H H H L H H H H H H H H H H L H H H H H H H H H H L H H H H H H H H H H L H H H H H H H H H H L H H H H H H H H H H 1 . H H H H H H H H H H L H L H L H L H H H H L I H H L H H H H I H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H H 1 1 . 4 引出端符号名称 引出端符号 A. - -A, Yo -Y, 名称 译码地址输入端 十进制输出端( 低电平有效) 14 3 S J / T 1 0 0 8 0 -9 1 附录A 筛选 ( 补 充件 ) 1 类器件: 生产厂自行规定啼选条件。 ， 类器件: 筛选项目和条件如下: 等级 A等级 B 内部 GB 4 5 9 0 4 . 6条当 内部目检 GB 4 5 9 0 4 . 6条 高温稳定 G B 4 59 0 3 . 3条， 1 5 0' C, 4 8 1 , 温度快速变化 G B 4 5 9 0 3 . 1条， 一6 5 -1 5 0 'C . 1 0次 稳态加速度 ， GB 4 5 9 0 2 . 1 0条 密封， GB 4 5 9 0 3 . 1 2 条和 3 . 1 3 条 老化前电测量 同A3分组 剔除不合格品 老化 GB4 5 9 0 4 . 7条 ， Tm n b 最大、 1 6 8 1 老化后电测量 同A3 分组， 剔除不合格品. 若 不 合 格 品率 大 于 5 %， 则该批拒收. 等级 C 内部目检 GB 4 5 9 0 4 . 6条 温度快速变化 G B 4 5 9 0 3 . 1 条， 一6 5 -1 5 0 'C . 1 0次 稳态加速度 ， GB 4 5 9 0 2 . 1 0条 老化前电测量 同 A3分组 剔除不 合格品 老化 GA B 4 5 9 0 4 . 7 条， Te m n最大、 2 钓h 一老 化 后 电 测 量 同A3 分组， 月 叮 除不合格品 若 不 合 格命 率 大 于 一 5 % . 则 该 批 拒 收 . 习 老化 G B 4 5 9 0 4. 7条 ， 了。山最 大、 1州 注: 1 )不适用于非空封器件。 一 J住 连 S J / T 1 0 0 8 0 - 9 1 附加说明: 本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。 本标准由北京八七八厂负责起草。 本标准主要起草 人 : 孙人杰 。 1 45
