[电子标准]-SJT 10268-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CF253型低功耗运算放大器.pdf

rJ 中华人民共和国电子工业行业标准 S J / T 1 0 2 6 6 一 1 0 2 7 0 -9 1 电子元器件详细规范 半导体集成电路运算放大器 ( 一 ) 1 9 9 1 一 1 1 一 1 2 发布1 9 9 2 - 0 1 - 0 1 实施 中华人民共和国机械电子工业部发布 中华人民共和国电子工业行业标准 电子元器件详细规范 半导体集成电路C F 2 5 3 型低功耗运算放大器 D e ta i l s p e c i f i c a t io n f o r e le c t r o n i c c o m p o n e n t s S J / T 1 0 2 6 8 -9 1 S e mi c o n d u c t o r i n t e g r a t e d c i r c u i t -CF 2 5 3 t y p e l o w p o we r o p e r a ti o n a l a mp l i f i e r ( 可供认证用) 本标准规定了半导体集成电路C F 2 5 3型低功耗运算放大器质量评定的全部内容。 本标准符合 G B 4 5 8 9 . 1 K 半导体器件分立器件和集成电路总规范 和 G B / T 1 2 7 5 0 半导 体 集成电 路分规范( 不包括混合电路) 的要求。 中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。 中华人民共和国机械电子工业部 1 9 9 1 - 1 1 - 1 2 批准1 9 9 2 - 0 1 - 0 1实施 S J / T 1 0 2 6 8 -9 1 中 华人民 共和国机械电子工业部 I ECQ 评定器件质量的依据: G B 4 5 8 9 . “半导体器件分立器件和集成 电路总规范 G B / T 1 2 7 5 0 半导体集成电路分规范( 不包 括混合电路) S J / T 1 0 2 6 8 -9 1 C F 2 5 3 型低功耗运算放大器详细规范 订货资料: 见本规范第 7 章。 1 机械说明: 外形依据: G B 7 0 9 2 半导体集成电路外 形尺寸 。 外形图: 按G B 7 0 9 2 T 0J f' 一:一.6.1A E : 一4 0 'C镇T . . b 簇+8 5 C ; M: 一5 5 'C ' 簇r . m b 簇- 1 - 1 2 5 C.“ 条款号特性和条件符号 规范值 单位试验C F2 5 3 CC F2 5 3 E, CF 2 5 3 M 最小典 型最大最小典型最大 5 . 3 . 1 输入失调电压 I ' s 二士1 5 V R n i =1 MS 2 I =0 V。 二O V C=3 0 p F 1 1 , =50 5 : r 毋1 . 05 . 0 1 . 06 . 0n , V V 3.A 3 b 5 . 3 . 2 输人失调电流 V ， 二士I 5 V R, =1 MS 2 I ' , =O V 一 。二O V C c =3 0 p F 1 1 =2 0 k 4 I , u 48 041 0 0nA A 3 bbX 3' 3 9 S J / T 1 0 2 6 8 -9 1 续 表 s标志 器件上的标志示例 a . J型 认证合格标志型 号 引出端识别标志 制造单位商标 质量评定类别 检验批识别代码 若受器件尺寸限制时， 允许将“ 检验批识别代码” 、 “ 质量评定类别” 标在器件背面。 b .T 刑 引 出端 识 别 标 志 认 证 合 格 标 志 里 号 检 脸 批 识 别 代 码 制造单位商标 版里评定类别 4 0 S a / T 1 0 2 6 8 -9 1 若在管壳侧面打印， 则将器件正放， 从“ 引出端识别标志” 起按逆时针方向依次标志 制造 单位商标、 型号、 认证合格标志、 检验批识别代码、 质量评定类别。 7订货资料 若无其它规定， 订购器件至少需要下列资料: 产品型号 ; b . 详细规范编号; c . 质量评定类别; d .其它 。 8 试验条件和检验要求 抽样要求: 根据采用的质量评定类别， 按G 3 / T 1 2 7 5 0 第9 章的 有关规定。 A组检验的抽样要求 分组 AQL 丑类l类 1 L AQL 1 L AOL A 1皿0 . 6 500 . 6 5 人 3压 0 . 1 5二0 . 1 5 A 3 。S 41 . 0S4 1 . 0 A 3 bS 41 . 0S41 . 0 B组, C组和 D组检验的抽样要求 分组 L TP D Q 类 1类 A B C B11 51 51 51 5 C12 02 02 02 O C 2 a1 5 1 5l 51 5 C3 1 51 51 51 5 B 4 C41 01 01 01 0 B 5飞 0 1 01 01 0 C 62 02 02 02 0 C 71 51 51 51 5 B 8 C 81 0571 0 C91 557l 5 C1 1 2 02 02 02 0 D81 0571 0 1 1 S 7 / T 1 0 2 6 8 -9 1 A组逐批 全部试验均为非破坏性的( 见G B 4 5 8 9 . 1 第3 . 6 . 6 条) 检验或试验引用标准 条件 若无其它规定. 'I ', m b =2 5 C ( 见 G B 4 5 8 9 . 1 第4章) 检验要求 规范值 Al 分组 外部目检 GB 4 5 8 9 . 1 第 4 . 2 . 1 . 1 条 标志清晰， 表面无损伤和气孔 A3 分组 2 5 下的静态 特性 G B 3 4 4 2 半 导 体集成 电路 运 算 ( 电压) 放大 器测试方法 的 基本原理 按本规范 5 . 2 . 1 至 5 . 2 . 3 条， 5 . 2 . 5至5 . 2 . 9条 按本规范 5 . 2 . 1 至 5 . 2 . 3 条， 5 . 2 . 5至5 . 2 . 9 条 A3 a分组 最高工作温度 下的静态特性 G B 3 4 4 2 T n m b 按本规范 4 . 5条规定的最 大值。 条件: 按本规范 5 . 3 条 按本规范 5 . 3 条 A 3 b 分组 最低工作温度 下的静态特性 G B 3 4 4 2 T s m b 按本规范 4 . 5条规定的最 小值。 条件 按本规范5 . 3 条按本规范 5 . 3 条 B组 逐批 标有( D ) 的试验是破坏性的( 见G B 4 5 8 9 . 1 第 3 . 6 . 6 条) 检验或试验引用标准 条件 若无其它规定， T -b =2 5 'C ( 见G B 4 5 8 9 . 1 第 4 章) 检验要求 规范值 B l 分组 尺寸 G B 4 5 8 9 . 1 第42 . 2 条及附 录 B 按本规范第了 章 B 4 分组 可焊性G B 4 5 9 0 半导体集成电路 机械和气候试验方法 第 2 . 5 条 按方法b ( 槽焊法) 按 2 . 5 . 6 条 B S 分组 温度快速变化 随后进行 G B 4 5 9 0 第 3 . 1 条温度按本规范第4 . 6 条规定 循环次数 1 0 次 1, =5 m m 一d? 一 S J / T 1 0 2 6 8 -9 1 B组 逐 批( 续) 检验或试验引用标准 条件 若无其它规定， 1 “n 、二2 5 'C ( 见G B 4 5 8 9 . 1 第 4 章) 检验要求 规范值 电测量 密封: 细检漏 粗检漏 G B 4 5 9 0 第 3 . 1 2 条 G B 4 5 9 0 第 3 . 1 3 条 同A 3分组恢复2 h 按规定 按规定 同A 3 分组 B8分组 电耐久性 ( 1 6 8 h ) 最后测量 ( 同A3 分组) 测试参数: 1 .p ho 1 1 . A , 1 s P a . v K- 天， r k GB/ T 1 2 7 5 0 第 1 2 . 3 条 T a m b 按本规范 4 . 5 条规定的 最大值， 试验线路见1 0 . 3 条 同A3 分组 1 . 1 X U SL “ 1 . 5XU SL 1 . 3XU SL 氏9 X L S L “ 1 . 3X U SL 0 . 9XL S L 0 . 9XL S L 0 . 9XL S L 其余同A3 分组 C R R L分组就B 4 , B 5 和B 8 分组提供计数检查结果. 注: l ) U S L 二 规范的上限值; L S L 二规范的下限 值。 C组周期 标有( D ) 的试验是破坏性的( 见G B 4 5 8 9 . 1 第 3 . 6 . 6 条) 检验或试验引用标准 条件 若无其它规定， T a a ,b =2 5 'C ( 见G B 4 5 8 9 . 1 第4章) 检验要求 规范值 C 1 分组 尺寸G B 4 5 8 9 . 1 第 4 . 2 . 2 条 及附录 B 按本规范第 1 章 C 2 a 分组 环境温度下的电特性 按本规范第 5 . 2 . 4 条按本规范 5 . 2 . 4 条 C 3 分组 引线强度 拉力( D) 弯曲( D) GB 4 5 9 0 第 2 . 1 条 GB 4 5 9 0第2 . 2 条 外加力的值按 2 . 1 条表 1 外加力的值按 2 . 2 条表 2 按 2 . 1 . 5 条 无损伤 一4 3 一 s d / T 1 0 2 8 8 -9 7 c组周期 ( 续) 检验或试验引用标准 条件 若无其它规定， r n ,b =2 5 C ( 见G B 4 5 8 9 . 1 第4章) 检验要求 规范值 C 4 分组 耐焊接热( D ) 最后测量 ( 同A3 分组) GB 4 5 9 0 第 2 . 6 条 按方法 1 ( 2 6 0 'C槽焊) 同 A 3 分组同A3 分组 C 6 分组， ， 稳态加速度( D ) ( 空封器件) 最后测量 ( 同A3 分组) GB 4 5 9 0 第 2 . 1 0 条 加速度: 按规定 同A3 分组同A3 分组 C 7分组 稳态湿热( D ) 最后测 量 ( 同A 3 分组) CB 4 5 90 第 3 . 6 条 严格度。: 时间5 C 0 同A3 分组同 A3分 组 C 8 分组 电耐久性( 1 0 0 0 h ) 最后测量 ( 同B 8分组) GB/ T 1 2 7 5 0 第 1 2 . 3 条 同B 8分组 同B 8 分组同B 8分组 C 9 分组 高温贮存( D ) 最后测量 ( 同A 3 分组) GB 45 90 第 3 . 3 条温度 1 5 0 时间: 1 0 0 0 h 同人 3 分组 同A 3 分组 C 1 1 分组 标志耐久性 GB 4 5 9 0 第4 . 3条 按 G B 4 5 9 0 第 4 . 3 . 2条， 方 法 1 按 C B 4 5 9 0 第 4 . 3 . 2 条 C R R L分组 就C 2 a , C 3 , C 4 , C 6 , C 7 , C 8 , C 9 和C i l 分组提供计数检查结 果 注: 1 ) 连续三次通过后， 周期可放宽为一年一次。 9 D组 D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行， 其后每年进行一次。 S J / T 1 0 2 6 8一9 1 检验或试验引用标准 条件 若无其它规定, T - 2 5 c ( 见 G B 4 5 8 9 . 1第4章、 检验要求 规范仇 D 8 分组 电耐久性( D) 最后测量 ( 同B 8分组) GB/ T 1 2 75 0 第 1 2 . 3 条 0 类2 0 0 0 h 11类 3 0 0 0 1 其它同B 8 分组 同B 8 分组 一一 同B 8分组 1 0 附加资料 1 0 . 1 引用 G B 3 1 4 2 的特性测试 一一 十 则试方法 GB 3 4 4 2第 _ . 1条 a卜 们 G B3 4 4 2 第 全2条 1 , 0 1 1 . GB 3 4 4 2 第 25 条 1 s G B 3 4 4 2 第 2 . 6 条 下 洲 r G B 3 4 4 2 第 2 . 曰条 K. , G B 3 4 4 2 第 2 . 1 1 条 K . . G B 3 4 4 2 第 2 . 8条 R , G B 3 4 4 2 第 2 . 1 2 条 A - G B 3 4 4 2第 2 . 7条 1 0 . 2特性 曲线 最 大允许功耗的温度限制 曲线 6 00 5 00 4 0 0 3 00 2 00 、丈 n 洲 /· l 、 队 r es 队 一一 F I 一日 口 沙己毛官称方长书峨 I OD 2 0 4 0 6 0 8 0 1 0 0 1 2 0 环境温度丁. m n 1 C 1 4 5 S J / T 1 0 2 6 8 - 9 1 1 0 . 3 电耐久性试验线路 L o o k n 一 ” ， r 今 士 1 了二5 0 日2 卜 l5 、 1 0 . 4 设计参考资料 条款号特性和条件符号 规范值 单位CF 2 5 3 CCF 2 53 L, CF 2 53 M 最小典型最大最小典型 最大 1 0 .4 .1 输入失调电压温度系数 “川u 33 v /' C 1 1 型号说明 1 1 . 1 电原理图 v . 1 、 一 T N十 OUT H盯 COM P , cnM P , V _ 4 6 S J / T 1 0 2 6 8 -9 1 1 1 . 2 典型连接图 一 1厂 十 一 I' - R . '+ 23 k Q F 一 琉，+ 2 3k S ? 1 1 . 3 引出端符号名称 引出端符号 引出端符号 名称 c om P井 一 a l 偏置 1 N_ 反 相 。 入一 O UT 输出 I N, F 1 M W V+ 正 电源 V _ 负 电 ，一 0) MP , 补偿 2 S J / T 1 0 2 6 8 - 9 1 附录入 筛选 ( 补充件) e 类器件: 生产厂自行规定筛选条件。 ， 类器件: 筛选项目和条件如下: 等级 A 内都目检 G B 4 5 9 0 第 6 条 高温稳定 G B 4 5 9 0第3 . 3 条 1 5 0 ' C 9 6 h 等级B 内部目检 G B 4 5 9 0第4 . 6 条 等级 c 内部目检， G B 4 5 9 0 第 4 . 6 条 |. 工f 高温稳定 G B 4 5 9 0第3 . 3 条 1 5 0 亡4 8 h 变化 第 3 . l 条 0 r, 1 0 次 口 1条 1 0次 稳态加速度” O B 4 5 9 0第2 . 1 0条 密 i t', 。 。 .1 5 9 0 第 3 . 1 : 条 和 3 . 1 3 条 稳态加速度” G B 4 5 9 0 第 2 . 1 0条 密封” 一 GB 4 5 9 0 第 3 . 1 2 条和 3 . 1 3 条 同n 3分组 剔除不合格品 门 _ )一晒 i 9 9M i T , -. 竺 老化前电测量 同n3 分组 剔除不合格品 老化 G B 4 5 9 0第4 . 7 条. T p n D 最大, 2 4 0 h 老了 k GB 4 5 9 0第4 . 7 条 T a m b 最大 1 6 8 h 老化 G B 4 S 9 0 第 4 . 7条， T m n b 最大， 1 6 8 h 老化 同人 剧除 若不 拒收 F 0 M fi t 一 一 I t fr tu * - iQ 9I 习 3 分 组 ， 同 A 3 分 组 ， 不 “ ， 品 。 、 。 除 不 合 格 品 . 竺一 一一 一R 1 SAC一一 一 注 1 )不适用于非空封器件。 4 8 一 S J / T 1 0 2 6 8 -9 1 附加说明: 本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。 本标准由北京半导体器件研究所负责起草。 本标准主要起草人: 崔忠勤李荣实