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    IEC-TS-62098-2000.pdf

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    IEC-TS-62098-2000.pdf

    SPECIFICATION TECHNIQUE CEI IEC TECHNICAL SPECIFICATION TS 62098 Première édition First edition 2000-11 Méthodes d'évaluation pour instruments à microprocesseur Evaluation methods for microprocessor- based instruments Numéro de référence Reference number CEI/IEC/TS 62098:2001 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 06:37:46 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- Numérotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolidées Les versions consolidées de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numéros dédition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplémentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état actuel de la technique. Des renseignements relatifs à cette publication, y compris sa validité, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets à létude et lavancement des travaux entrepris par le comité détudes qui a élaboré cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont également disponibles par lintermédiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critères, comprenant des recherches textuelles, par comité détudes ou date de publication. Des informations en ligne sont également disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce résumé des dernières publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier électronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplémentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tél: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/JP.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 06:37:46 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- SPECIFICATION TECHNIQUE CEI IEC TECHNICAL SPECIFICATION TS 62098 Première édition First edition 2000-11 Méthodes d'évaluation pour instruments à microprocesseur Evaluation methods for microprocessor- based instruments Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2001 Droits de reproduction réservés Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission3, rue de Varembé Geneva, Switzerland Telefax: +41 22 919 0300e-mail: inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODEW Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 06:37:46 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 2 TS 62098 © CEI:2001 SOMMAIRE AVANT-PROPOS4 INTRODUCTION.8 1Généralités.10 1.1Domaine dapplication .10 1.2Références normatives10 1.3Définitions.10 2Développements en instrumentation.12 3Considérations concernant lévaluation.14 3.1Approche système.14 3.2Matrice dévaluation 16 3.3Zone limite (interfaces)20 4Technologie dévaluation20 4.1Analyse de linstrument .20 4.2Instruments sur une liaison de communication numérique .30 4.3Identification des propriétés des instruments.32 4.4Conditions dinfluence et essais 42 Annexe A (normative) Considérations pour mesurer la précision62 Annexe B (informative) Mesures de l'écart permanent dune boucle de régulation64 Annexe C (informative) Résolution et perte de laction intégrale.66 Annexe D (informative) Mise à zéro de lintégrateur par la protection anti-saturation68 Annexe E (informative) Exemple pratique de matrice d'évaluation72 Bibliographie.76 Figure 1 Modèle de système générique16 Figure 2 Modèle de matrice dévaluation18 Figure 3 Flux des données fonctionnelles en E/S de linstrument .20 Figure 4 Modèle d'instrument générique 22 Figure 5 Modèle générique de système avec une liaison de communication numérique .32 Figure 6 Essai de vérification du fonctionnement .32 Figure 7 Essai de vérification du fonctionnement .34 Figure B.1 Sous-systèmes Consigne entrée64 Figure D.1 Effets de la mise à zéro de lintégrateur par la protection anti-saturation 70 Tableau 1 Fonctions des instruments analogiques et à microprocesseur14 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 06:37:46 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- TS 62098 © IEC:2001 3 CONTENTS FOREWORD.5 INTRODUCTION.9 1General 11 1.1Scope11 1.2Normative references 11 1.3Definitions .11 2Developments in instrumentation 13 3Evaluation considerations .15 3.1System approach.15 3.2Evaluation matrix.17 3.3Boundary area (interfaces).21 4Evaluation technology.21 4.1Instrument analysis21 4.2Instruments on a digital communication link .31 4.3Identification of instrument properties 33 4.4Influencing conditions and related tests43 Annex A (normative) Considerations on measuring accuracy 63 Annex B (informative) Offset measurements of controllers65 Annex C (informative) Resolution and loss of integral action.67 Annex D (informative) Reset wind-up protection .69 Annex E (informative) Practical example of evaluation matrix .73 Bibliography77 Figure 1 Generic system model 17 Figure 2 Model of an evaluation matrix .19 Figure 3 Functional information flows entering and exiting an instrument.21 Figure 4 Generic instrument model.23 Figure 5 Generic model of a system with a digital communication link.33 Figure 6 Test for verifying functional operation33 Figure 7 Test for verifying functional operation35 Figure B.1 Setpoint/input subsystems.65 Figure D.1 Reset wind-up effects71 Table 1 Analog and microprocessor-based instrument functions .15 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 06:37:46 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- 4 TS 62098 © CEI:2001 COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ MÉTHODES DÉVALUATION POUR INSTRUMENTS À MICROPROCESSEUR AVANT-PROPOS 1)La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations. 2)Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés sont représentés dans chaque comité détudes. 3)Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux. 4)Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière. 5)La CEI na fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilité nest pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à lune de ses normes. 6)Lattention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente spécification technique peuvent faire lobjet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence. La tâche principale des comités détudes de la CEI est lélaboration des Normes internationales. Exceptionnellement, un comité détudes peut proposer la publication dune spécification technique lorsquen dépit de maints efforts, laccord requis ne peut être réalisé en faveur de la publication dune Norme internationale, ou lorsque le sujet en question est encore en cours de développement technique ou quand, pour une raison quelconque, la possibilité dun accord pour la publication dune Norme internationale peut être envisagée pour lavenir mais pas dans limmédiat. La CEI 62098, qui est une spécification technique, a été établie par le sous-comité 65B: Dispositifs, du comité d'études 65 de la CEI: Mesure et commande dans les processus industriels. Cette version bilingue (2001-05) remplace la version monolingue anglaise. Le texte anglais de cette spécification technique est basé sur les documents 65B/388/CDV et 65B/401/RVC. Le rapport de vote 65B/401/RVC donne toute information sur le vote ayant abouti à l'approbation de cette spécification technique. La version française de cette spécification technique n'a pas été soumise au vote. Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 3. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECLicensee=IHS Employees/1111111001, User=Wing, Bernie Not for Resale, 03/08/2007 06:37:46 MSTNo reproduction or networking permitted without license from IHS -,-,- TS 62098 © IEC:2001 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ EVALUATION METHODS FOR MICROPROCESSOR-BASED INSTRUMENTS FOREWORD 1)The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2)The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National Committees. 3)The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in

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